再现性：是指不同的操作人员采用不同的测量仪器，测量同一零件的同一特性时测量平均值的变差，又叫系统间的误差。
再现性：是指不同的操作人员采用不同的测量仪器，测量同一零件的同一特性时测量平均值的变差，又叫系统间的误差。
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某半导体芯片厂使用光电干涉法测厚仪测量芯片镀膜的厚度,公差限为100050A,生产过程实际标准差σ(P)=15A。测量仪器是数字显示的,考虑可能造成测量系统波动的原因一是不同的测量时刻,二是每次将样件装置于测量底架时的装上卸下的循环。现选用一片芯片,在三个不同时刻各进行装上卸下的3次循环,每次循环重复测量2次,则此时的再现性是指:() A.同一时刻同一循环的测量所得结果的一致性B.同一时刻不同循环的测量所得结果的一致性C.不同时刻不同循环的测量所得结果的一致性D.不同时刻同一循环的测量所得结果的一致性
为获得独立测量结果，由不同操作员按相同的方法，使用不同的测量设施，在不同的地 点，对同一测量对象进行测量的观测条件，称为（ ）。[2010年真题]A.再现性条件 B.精密度条件 C.准确度条件 D.重复性条件
测定生铁中的S元素含量的测量系统中包含3台同样的自动数字检测仪，每台检测仪上有两个操作员轮流值班负责在仪器上记录数据，且假设操作员记录数据无误差。为进行测量系统分析，将10份生铁样品安排在3台检测仪上进行测量，对每片生铁样片都在各台检测仪上重复测量2次。下面关于重复性和再现性描述正确的是：（）A、重复性指每台检测仪重复测量同一份样片的波动B、重复性指两个操作员重复测量同一份样片的波动C、再现性指不同检测仪重复测量同一份样片的波动D、再现性指不同操作人员重复测量同一份样片的波动
单选题对再现性说法正确的是：（）。A由不同操作人员，采用相同的测量仪器，测量不同零件的同一特性时测量平均值的变差B由不同操作人员，采用相同的测量仪器，测量同一零件的同一特性时测量平均值的变差C由不同操作人员，采用不同的测量仪器，测量同一零件的同一特性时测量平均值的变差D由相同操作人员，采用相同的测量仪器，测量同一零件的同一特性时测量平均值的变差
多选题对于测量系统重复性的描述正确的是（）A是指同一个操作者采用一种量具，多次重复测量同一零件的同一特征所获得的测量值的变差B是指由于不同操作者，采用相同量具，测量同一个零件的同一特征所得测量结果的变差C是指同一个操作者采用一种量具，多次用不同方法重复测量同一零件的同一特征时所获得的测量值的变差D测量系统重复性差往往和测量仪器本身精度有关
单选题下面对重复性说法正确的是：（）。A指由同一个操作人员用同一种量具经多次测量同一个零件的同一特性时获得的测量值变差B指由同一个操作人员用不同的量具经多次测量同一个零件的同一特性时获得的测量值变差C指由同一个操作人员用同一种量具经多次测量不同的零件的同一特性时获得的测量值变差D指由同一个操作人员用同一种量具经多次测量同一个零件的不同特性时获得的测量值变差
判断题再现性：是指不同的操作人员采用不同的测量仪器，测量同一零件的同一特性时测量平均值的变差，又叫系统间的误差。A对B错