对于控制测量系统的变差应该显示有效的分辩率并且与制造过程变差相比要小。

对于控制测量系统的变差应该显示有效的分辩率并且与制造过程变差相比要小。


相关考题:

测量仪器分辨力的第一准则应该至少是:()。A、公差的1/5B、公差的1/10C、过程变差的1/5D、过程变差的1/10

测量分析可将各种来源的变差量化,如来自()。测量分析也可将来自测量系统的变差作为总过程变差、或总容许变差的一部分予以描述。A、测量人员的变差B、测量结果的变差C、测量仪器自身的变差D、测量过程的变差

关于总变差的说法正确的是()。A、等于已释变差和未释变差之差B、等于已释变差与误差之差C、等于已释变差和误差之和D、等于已释变差和未释变差之和

下列属于系统采取措施的是()。A、通常用来消除变差的特殊原因B、通常由与过程直接相关的人员实施C、大约可纠正15%的过程问题D、通常用来消除变差的普通原因

测量仪器分辨力的使用准则应该至少是()。A、公差的1/5B、公差的1/10C、过程变差的1/5D、过程变差的1/10

测量系统分析是在特殊原因造成的过程变差的基础上进行分析。

测量系统变差的类型有哪些?

稳定性是在有特殊原因变差的统计控制状态下,是测量系统对同一基准值在不同时间的偏倚的总变差。

测量系统的()通常被称为测量设备的变差。

以下哪种原因可能导致测量结果的变差() 。A、零件的变差B、测量人内部变差C、测量仪器的变差D、测量环境导致的变差

测量系统的变差只能是由普通原因而不是特殊原因造成。

以下公式错误的是()。A、 测量系统的偏倚=测量值-真值(或约定真值)B、 TV(总变差)2=EV(测量设备的变差)2+PV(零件的变差)2C、 GRR(测量系统变差)2=EV(测量设备的变差)2+AV(评价人的变差)2D、 ndc(区别分类数)=1.41*(PV/GRR)

测量系统的()通常被称为评价人的变差。

对于二阶系统,加大增益将使系统的()A、稳态性变差B、稳定性变差C、瞬态性变差D、快速性变差

对于二阶系统,加大增益将使系统的()变差。

精密测量电阻中为什么要求读数盘有良好的线性和小的变差?

填空题测量系统的()通常被称为测量设备的变差。

单选题测量仪器分辨力的第一准则应该至少是:()。A公差的1/5B公差的1/10C过程变差的1/5D过程变差的1/10

判断题稳定性是在有特殊原因变差的统计控制状态下,是测量系统对同一基准值在不同时间的偏倚的总变差。A对B错

多选题以下哪种原因可能导致测量结果的变差() 。A零件的变差B测量人内部变差C测量仪器的变差D测量环境导致的变差

多选题测量仪器分辨力的使用准则应该至少是()。A公差的1/5B公差的1/10C过程变差的1/5D过程变差的1/10

判断题测量系统分析是在特殊原因造成的过程变差的基础上进行分析。A对B错

单选题以下公式错误的是()。A 测量系统的偏倚=测量值-真值(或约定真值)B TV(总变差)2=EV(测量设备的变差)2+PV(零件的变差)2C GRR(测量系统变差)2=EV(测量设备的变差)2+AV(评价人的变差)2D ndc(区别分类数)=1.41*(PV/GRR)

单选题对于二阶系统,加大增益将使系统的()A稳态性变差B稳定性变差C瞬态性变差D快速性变差

填空题测量系统的()通常被称为评价人的变差。

判断题对于控制测量系统的变差应该显示有效的分辩率并且与制造过程变差相比要小。A对B错

问答题测量系统变差的类型有哪些?