判断题对于控制测量系统的变差应该显示有效的分辩率并且与制造过程变差相比要小。A对B错
判断题
对于控制测量系统的变差应该显示有效的分辩率并且与制造过程变差相比要小。
A
对
B
错
参考解析
解析：
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测量分析可将各种来源的变差量化，如来自（）。测量分析也可将来自测量系统的变差作为总过程变差、或总容许变差的一部分予以描述。A、测量人员的变差B、测量结果的变差C、测量仪器自身的变差D、测量过程的变差
以下公式错误的是（）。A、 测量系统的偏倚＝测量值－真值（或约定真值）B、 TV（总变差）2＝EV（测量设备的变差）2＋PV（零件的变差）2C、 GRR（测量系统变差）2＝EV（测量设备的变差）2＋AV（评价人的变差）2D、 ndc（区别分类数）＝1.41*（PV/GRR）
单选题以下公式错误的是（）。A 测量系统的偏倚＝测量值－真值（或约定真值）B TV（总变差）2＝EV（测量设备的变差）2＋PV（零件的变差）2C GRR（测量系统变差）2＝EV（测量设备的变差）2＋AV（评价人的变差）2D ndc（区别分类数）＝1.41*（PV/GRR）
问答题测量系统变差的类型有哪些？