单选题新制的及修理后的千分尺测量面平面度可用2级平晶以()方法检定。A技术光波干涉法B比较法C光隙法

单选题
新制的及修理后的千分尺测量面平面度可用2级平晶以()方法检定。
A

技术光波干涉法

B

比较法

C

光隙法


参考解析

解析: 暂无解析

相关考题:

千分尺的平面度是用()平面平晶进行检定的,它是根据()原理,利用光波干涉法进行的。

使用平行平晶检定千分尺两测量面的平行度时,应依次将四块厚度差为()螺距的平行平晶放入两测量面间,并调整平晶使其接触点在()时读数。

千分尺的两工作面,如果其中一个工作面与测量轴线垂直,那么两工作面的平行度用平行平晶检定时,所需平行平晶的块数为()。 A、四块B、一块C、二块

用平晶检定千分尺工作面时,如干涉条纹向内跑即为()A、中凹B、中凸C、平面D、波形

用平晶检定千分尺工作面时出现“一片色”(没有明显条纹),则说明()很好A、平面度B、平行度C、光洁度D、准确度

用平行平晶检定测微类量具的测量面平行性时,应在千分尺的测量范围内()选择和使用。

用平行平晶检定千分尺两测量面的平行度时,当千分尺测量面与平行平晶接触时,必须在测力作用下接触,也可以转动微分筒接触。

如何用平晶检定外径千分尺测量面的平面度和平行度?

新制的及修理后的千分尺测量面平面度可用2级平晶以()方法检定。A、技术光波干涉法B、比较法C、光隙法

以技术光波干涉法检定深度千分尺基座工作面的平面度所用的2级平晶,其工作面的平面度不大于()A、0.03umB、0.05umC、0.10um

测量范围为(25~50)mm的千分尺,其测量面的平行度用何尺寸的平行平晶检定?

对于千分尺测量面的平行度,可以用平行平晶检定,也可用量块进行检定,但用量块检定比用平行平晶检定精度高。

测量上限大于100mm千分尺,其工作面的平行度,为什么不用平行平晶检定?

用平行平晶检定千分尺两测量面的平行度时,平行度如何确定?

检定千分尺测量面平面度时,初学人员用平面平晶往往在测量面上产生不了干涉条纹,主要原因是什么?

千分尺两测量面的平行度可用平行平晶检定。目前,我国生产的平行平晶共分四组,可用来检定0~100mm四个规格的千分尺平行度。

单选题千分尺的两工作面,如果其中一个工作面与测量轴线垂直,那么两工作面的平行度用平行平晶检定时,所需平行平晶的块数为()。A四块B一块C二块

填空题用平行平晶检定测微类量具的测量面平行性时,应在千分尺的测量范围内()选择和使用。

判断题对于千分尺测量面的平行度,可以用平行平晶检定,也可用量块进行检定,但用量块检定比用平行平晶检定精度高。A对B错

问答题如何用平晶检定外径千分尺测量面的平面度和平行度?

判断题千分尺两测量面的平行度可用平行平晶检定。目前,我国生产的平行平晶共分四组,可用来检定0~100mm四个规格的千分尺平行度。A对B错

问答题检定千分尺测量面平面度时,初学人员用平面平晶往往在测量面上产生不了干涉条纹,主要原因是什么?

填空题外径千分尺测量面平行度,可以用平行平晶也可以用量块检定。但是在用量块检定时,应选择尺寸在杠杆千分尺测量上、下限之间的量块,其尺寸间隔为测杆的()的四块量块。

判断题用平行平晶检定千分尺两测量面的平行度时,当千分尺测量面与平行平晶接触时,必须在测力作用下接触,也可以转动微分筒接触。A对B错

单选题用平晶检定千分尺工作面时出现“一片色”(没有明显条纹),则说明()很好A平面度B平行度C光洁度D准确度

问答题测量范围为(25~50)mm的千分尺,其测量面的平行度用何尺寸的平行平晶检定?

问答题用平行平晶检定千分尺两测量面的平行度时,平行度如何确定?