单选题千分尺的两工作面,如果其中一个工作面与测量轴线垂直,那么两工作面的平行度用平行平晶检定时,所需平行平晶的块数为()。A四块B一块C二块

单选题
千分尺的两工作面,如果其中一个工作面与测量轴线垂直,那么两工作面的平行度用平行平晶检定时,所需平行平晶的块数为()。
A

四块

B

一块

C

二块


参考解析

解析: 暂无解析

相关考题:

使用平行平晶检定千分尺两测量面的平行度时,应依次将四块厚度差为()螺距的平行平晶放入两测量面间,并调整平晶使其接触点在()时读数。

测量上限至100mm的千分尺两工作面的平行度只能用平行平晶进行检定,才能满足要求。() 此题为判断题(对,错)。

千分尺的两工作面,如果其中一个工作面与测量轴线垂直,那么两工作面的平行度用平行平晶检定时,所需平行平晶的块数为()。 A、四块B、一块C、二块

用平行平晶来检定杠杆式卡规,两测量面的平行度,检定所需平晶数的()。 A、一块B、二块C、三块

用平行平晶或量块同时测量一把千分尺的平行度,测量结果可能产生一个合格,一个不合格。

用平晶检定千分尺工作面时出现“一片色”(没有明显条纹),则说明()很好A、平面度B、平行度C、光洁度D、准确度

用平晶检定千分尺工作面时出现()干涉条纹,则说明被检千分尺工作面非常平整A、直线形B、圆形C、平行的弧线D、直线形、圆形和平行的弧线

用平行平晶检定千分尺两测量面的平行度时,当千分尺测量面与平行平晶接触时,必须在测力作用下接触,也可以转动微分筒接触。

如何用平晶检定外径千分尺测量面的平面度和平行度?

怎样用Ⅰ、Ⅱ组平行平晶检定大于50~150mm千分尺的平行度?

测量范围为(25~50)mm的千分尺,其测量面的平行度用何尺寸的平行平晶检定?

对于千分尺测量面的平行度,可以用平行平晶检定,也可用量块进行检定,但用量块检定比用平行平晶检定精度高。

测量上限大于100mm千分尺,其工作面的平行度,为什么不用平行平晶检定?

用平行平晶检定千分尺两测量面的平行度时,平行度如何确定?

千分尺两测量面的平行度可用平行平晶检定。目前,我国生产的平行平晶共分四组,可用来检定0~100mm四个规格的千分尺平行度。

单选题用平行平晶来检定杠杆式卡规,两测量面的平行度,检定所需平晶数的()。A一块B二块C三块

单选题用平晶检定千分尺工作面时出现()干涉条纹,则说明被检千分尺工作面非常平整A直线形B圆形C平行的弧线D直线形、圆形和平行的弧线

判断题对于千分尺测量面的平行度,可以用平行平晶检定,也可用量块进行检定,但用量块检定比用平行平晶检定精度高。A对B错

问答题如何用平晶检定外径千分尺测量面的平面度和平行度?

问答题测量上限大于100mm千分尺,其工作面的平行度,为什么不用平行平晶检定?

判断题千分尺两测量面的平行度可用平行平晶检定。目前,我国生产的平行平晶共分四组,可用来检定0~100mm四个规格的千分尺平行度。A对B错

判断题用平行平晶或量块同时测量一把千分尺的平行度,测量结果可能产生一个合格,一个不合格。A对B错

填空题外径千分尺测量面平行度,可以用平行平晶也可以用量块检定。但是在用量块检定时,应选择尺寸在杠杆千分尺测量上、下限之间的量块,其尺寸间隔为测杆的()的四块量块。

判断题用平行平晶检定千分尺两测量面的平行度时,当千分尺测量面与平行平晶接触时,必须在测力作用下接触,也可以转动微分筒接触。A对B错

单选题用平晶检定千分尺工作面时出现“一片色”(没有明显条纹),则说明()很好A平面度B平行度C光洁度D准确度

问答题测量范围为(25~50)mm的千分尺,其测量面的平行度用何尺寸的平行平晶检定?

问答题用平行平晶检定千分尺两测量面的平行度时,平行度如何确定?