使用平行平晶检定千分尺两测量面的平行度时,应依次将四块厚度差为()螺距的平行平晶放入两测量面间,并调整平晶使其接触点在()时读数。
测量上限至100mm的千分尺两工作面的平行度只能用平行平晶进行检定,才能满足要求。() 此题为判断题(对，错)。
千分尺的两工作面,如果其中一个工作面与测量轴线垂直,那么两工作面的平行度用平行平晶检定时,所需平行平晶的块数为()。 A、四块B、一块C、二块
简述测量上限为100mm的外径千分尺两测量面平行度检定方法？
外径千分尺平面度用二级平晶按（）检定A、光波法B、光干涉法C、光条纹法D、干涉条纹法
外径千分尺测量面平行度，可以用平行平晶也可以用量块检定。但是在用量块检定时，应选择尺寸在杠杆千分尺测量上、下限之间的量块，其尺寸间隔为测杆的（）的四块量块。
用平晶检定千分尺工作面时出现“一片色”（没有明显条纹），则说明（）很好A、平面度B、平行度C、光洁度D、准确度
用平行平晶检定千分尺两测量面的平行度时，当千分尺测量面与平行平晶接触时，必须在测力作用下接触，也可以转动微分筒接触。
怎样用Ⅰ、Ⅱ组平行平晶检定大于50～150mm千分尺的平行度？
测量范围为（25~50）mm的千分尺，其测量面的平行度用何尺寸的平行平晶检定？
对于千分尺测量面的平行度，可以用平行平晶检定，也可用量块进行检定，但用量块检定比用平行平晶检定精度高。
测量上限大于100mm千分尺，其工作面的平行度，为什么不用平行平晶检定？
用平行平晶检定千分尺两测量面的平行度时，平行度如何确定？
检定千分尺测量面平面度时，初学人员用平面平晶往往在测量面上产生不了干涉条纹，主要原因是什么？
用平行平晶来检定杠杆式卡规，两测量面的平行度，检定所需平晶数的（）。A、一块B、二块C、三块
千分尺两测量面的平行度可用平行平晶检定。目前，我国生产的平行平晶共分四组，可用来检定0～100mm四个规格的千分尺平行度。
问答题检定千分尺测量面平面度时，初学人员用平面平晶往往在测量面上产生不了干涉条纹，主要原因是什么？
问答题测量上限大于100mm千分尺，其工作面的平行度，为什么不用平行平晶检定？
判断题千分尺两测量面的平行度可用平行平晶检定。目前，我国生产的平行平晶共分四组，可用来检定0～100mm四个规格的千分尺平行度。A对B错
判断题用平行平晶检定千分尺两测量面的平行度时，当千分尺测量面与平行平晶接触时，必须在测力作用下接触，也可以转动微分筒接触。A对B错
问答题测量范围为（25~50）mm的千分尺，其测量面的平行度用何尺寸的平行平晶检定？
判断题对于千分尺测量面的平行度，可以用平行平晶检定，也可用量块进行检定，但用量块检定比用平行平晶检定精度高。A对B错
问答题用平行平晶检定千分尺两测量面的平行度时，平行度如何确定？
问答题简述测量上限为100mm的外径千分尺两测量面平行度检定方法？
单选题用平行平晶来检定杠杆式卡规，两测量面的平行度，检定所需平晶数的（）。A一块B二块C三块
问答题怎样用Ⅰ、Ⅱ组平行平晶检定大于50～150mm千分尺的平行度？