千分尺的平面度是用()平面平晶进行检定的,它是根据()原理,利用光波干涉法进行的。
使用平行平晶检定千分尺两测量面的平行度时,应依次将四块厚度差为()螺距的平行平晶放入两测量面间,并调整平晶使其接触点在()时读数。
使用平面平晶、平行平晶测量前，必须擦净平晶的测量面和被测表面，否则会影响（）的产生，甚至会（）。
用平晶检定测量面的平面度时，其计算平面度的公式为F=λb/2a或F=n.λ/2，式中λ在任何条件下都为0.6。
测量平面度误差时，常将平面平晶工作面贴在被测表面上，并稍加压力，就会有干涉条纹出现。干涉条纹越多，则平面度误差（）。
用平晶检定千分尺工作面时，如干涉条纹向内跑即为（）A、中凹B、中凸C、平面D、波形
用平晶检定千分尺工作面时出现“一片色”（没有明显条纹），则说明（）很好A、平面度B、平行度C、光洁度D、准确度
用平行平晶检定测微类量具的测量面平行性时，应在千分尺的测量范围内（）选择和使用。
用平行平晶检定千分尺两测量面的平行度时，当千分尺测量面与平行平晶接触时，必须在测力作用下接触，也可以转动微分筒接触。
新制的及修理后的千分尺测量面平面度可用2级平晶以（）方法检定。A、技术光波干涉法B、比较法C、光隙法
测量范围为（25~50）mm的千分尺，其测量面的平行度用何尺寸的平行平晶检定？
对于千分尺测量面的平行度，可以用平行平晶检定，也可用量块进行检定，但用量块检定比用平行平晶检定精度高。
用平行平晶检定千分尺两测量面的平行度时，平行度如何确定？
用平晶检定工作面的平面度，是一种光波干涉法测量，那么产生光波干涉的条件是什么？
判断题用平晶检定测量面的平面度时，其计算平面度的公式为F=λb/2a或F=n.λ/2，式中λ在任何条件下都为0.6。A对B错
填空题用平行平晶检定测微类量具的测量面平行性时，应在千分尺的测量范围内（）选择和使用。
判断题对于千分尺测量面的平行度，可以用平行平晶检定，也可用量块进行检定，但用量块检定比用平行平晶检定精度高。A对B错
问答题如何用平晶检定外径千分尺测量面的平面度和平行度？
问答题检定千分尺测量面平面度时，初学人员用平面平晶往往在测量面上产生不了干涉条纹，主要原因是什么？
填空题外径千分尺测量面平行度，可以用平行平晶也可以用量块检定。但是在用量块检定时，应选择尺寸在杠杆千分尺测量上、下限之间的量块，其尺寸间隔为测杆的（）的四块量块。
判断题用平行平晶检定千分尺两测量面的平行度时，当千分尺测量面与平行平晶接触时，必须在测力作用下接触，也可以转动微分筒接触。A对B错
单选题用平晶检定千分尺工作面时出现“一片色”（没有明显条纹），则说明（）很好A平面度B平行度C光洁度D准确度
问答题测量范围为（25~50）mm的千分尺，其测量面的平行度用何尺寸的平行平晶检定？
问答题用平行平晶检定千分尺两测量面的平行度时，平行度如何确定？
单选题新制的及修理后的千分尺测量面平面度可用2级平晶以（）方法检定。A技术光波干涉法B比较法C光隙法