用平行平晶检定测微类量具的测量面平行性时,应在千分尺的测量范围内()选择和使用。

用平行平晶检定测微类量具的测量面平行性时,应在千分尺的测量范围内()选择和使用。


相关考题:

使用平行平晶检定千分尺两测量面的平行度时,应依次将四块厚度差为()螺距的平行平晶放入两测量面间,并调整平晶使其接触点在()时读数。

千分尺的两工作面,如果其中一个工作面与测量轴线垂直,那么两工作面的平行度用平行平晶检定时,所需平行平晶的块数为()。 A、四块B、一块C、二块

用平行平晶来检定杠杆式卡规,两测量面的平行度,检定所需平晶数的()。 A、一块B、二块C、三块

使用平面平晶、平行平晶测量前,必须擦净平晶的测量面和被测表面,否则会影响()的产生,甚至会()。

用平行平晶或量块同时测量一把千分尺的平行度,测量结果可能产生一个合格,一个不合格。

用平晶检定千分尺工作面时出现()干涉条纹,则说明被检千分尺工作面非常平整A、直线形B、圆形C、平行的弧线D、直线形、圆形和平行的弧线

用平行平晶检定千分尺两测量面的平行度时,当千分尺测量面与平行平晶接触时,必须在测力作用下接触,也可以转动微分筒接触。

如何用平晶检定外径千分尺测量面的平面度和平行度?

怎样用Ⅰ、Ⅱ组平行平晶检定大于50~150mm千分尺的平行度?

测量范围为(25~50)mm的千分尺,其测量面的平行度用何尺寸的平行平晶检定?

对于千分尺测量面的平行度,可以用平行平晶检定,也可用量块进行检定,但用量块检定比用平行平晶检定精度高。

测量上限大于100mm千分尺,其工作面的平行度,为什么不用平行平晶检定?

用平行平晶检定千分尺两测量面的平行度时,平行度如何确定?

千分尺两测量面的平行度可用平行平晶检定。目前,我国生产的平行平晶共分四组,可用来检定0~100mm四个规格的千分尺平行度。

单选题用平行平晶来检定杠杆式卡规,两测量面的平行度,检定所需平晶数的()。A一块B二块C三块

填空题使用平面平晶、平行平晶测量前,必须擦净平晶的测量面和被测表面,否则会影响()的产生,甚至会()。

单选题千分尺的两工作面,如果其中一个工作面与测量轴线垂直,那么两工作面的平行度用平行平晶检定时,所需平行平晶的块数为()。A四块B一块C二块

填空题用平行平晶检定测微类量具的测量面平行性时,应在千分尺的测量范围内()选择和使用。

判断题对于千分尺测量面的平行度,可以用平行平晶检定,也可用量块进行检定,但用量块检定比用平行平晶检定精度高。A对B错

问答题怎样用Ⅰ、Ⅱ组平行平晶检定大于50~150mm千分尺的平行度?

问答题如何用平晶检定外径千分尺测量面的平面度和平行度?

问答题测量上限大于100mm千分尺,其工作面的平行度,为什么不用平行平晶检定?

判断题千分尺两测量面的平行度可用平行平晶检定。目前,我国生产的平行平晶共分四组,可用来检定0~100mm四个规格的千分尺平行度。A对B错

填空题外径千分尺测量面平行度,可以用平行平晶也可以用量块检定。但是在用量块检定时,应选择尺寸在杠杆千分尺测量上、下限之间的量块,其尺寸间隔为测杆的()的四块量块。

判断题用平行平晶检定千分尺两测量面的平行度时,当千分尺测量面与平行平晶接触时,必须在测力作用下接触,也可以转动微分筒接触。A对B错

问答题测量范围为(25~50)mm的千分尺,其测量面的平行度用何尺寸的平行平晶检定?

问答题用平行平晶检定千分尺两测量面的平行度时,平行度如何确定?