千分尺的两工作面,如果其中一个工作面与测量轴线垂直,那么两工作面的平行度用平行平晶检定时,所需平行平晶的块数为()。 A、四块B、一块C、二块
若用平晶检测被测件,测量面上的干涉条纹为园形时,其测量面的凹凸情况可以这样进行判定:在平晶中央加压,若干涉条纹向内跑,则说明测量面中间是()。 A、平B、凸C、凹
用平晶以光波干涉法检定量具工作面的平面度时，出现干涉条纹或干涉环，其干涉原理是（）。A、球面干涉B、等倾干涉C、等厚干涉
测量平面度误差时，常将平面平晶工作面贴在被测表面上，并稍加压力，就会有干涉条纹出现。干涉条纹越多，则平面度误差（）。
外径千分尺平面度用二级平晶按（）检定A、光波法B、光干涉法C、光条纹法D、干涉条纹法
用平晶检定千分尺工作面时，如干涉条纹向内跑即为（）A、中凹B、中凸C、平面D、波形
用平晶检定千分尺工作面时出现“一片色”（没有明显条纹），则说明（）很好A、平面度B、平行度C、光洁度D、准确度
用平晶检定千分尺工作面时出现圆形干涉条纹，则说明工作面为（）面A、平B、球C、波形D、倾斜
用平晶检定千分尺工作面时出现（）干涉条纹，则说明被检千分尺工作面非常平整A、直线形B、圆形C、平行的弧线D、直线形、圆形和平行的弧线
用平行平晶检定千分尺两测量面的平行度时，当千分尺测量面与平行平晶接触时，必须在测力作用下接触，也可以转动微分筒接触。
用平面平晶的技术光波干涉法检定一量具工作面的平面度时，出现的干涉条纹或干涉环，其干涉原理是（）。A、球面干涉B、等倾干涉C、等厚干涉
对于千分尺测量面的平行度，可以用平行平晶检定，也可用量块进行检定，但用量块检定比用平行平晶检定精度高。
测量上限大于100mm千分尺，其工作面的平行度，为什么不用平行平晶检定？
用平行平晶检定千分尺两测量面的平行度时，平行度如何确定？
检定千分尺测量面平面度时，初学人员用平面平晶往往在测量面上产生不了干涉条纹，主要原因是什么？
单选题若用平晶检测被测件，测量面上的干涉条纹为园形时，其测量面的凹凸情况可以这样进行判定：在平晶中央加压，若干涉条纹向内跑，则说明测量面中间是（）。A平B凸C凹
单选题用平面平晶的技术光波干涉法检定一量具工作面的平面度时，出现的干涉条纹或干涉环，其干涉原理是（）。A球面干涉B等倾干涉C等厚干涉
单选题用平晶检定千分尺工作面时出现圆形干涉条纹，则说明工作面为（）面A平B球C波形D倾斜
单选题用平晶检定千分尺工作面时出现（）干涉条纹，则说明被检千分尺工作面非常平整A直线形B圆形C平行的弧线D直线形、圆形和平行的弧线
单选题千分尺的两工作面，如果其中一个工作面与测量轴线垂直，那么两工作面的平行度用平行平晶检定时，所需平行平晶的块数为（）。A四块B一块C二块
判断题对于千分尺测量面的平行度，可以用平行平晶检定，也可用量块进行检定，但用量块检定比用平行平晶检定精度高。A对B错
问答题测量上限大于100mm千分尺，其工作面的平行度，为什么不用平行平晶检定？
单选题用平晶以光波干涉法检定量具工作面的平面度时，出现干涉条纹或干涉环，其干涉原理是（）。A球面干涉B等倾干涉C等厚干涉
单选题用平晶检定千分尺工作面时，如干涉条纹向内跑即为（）A中凹B中凸C平面D波形
问答题检定千分尺测量面平面度时，初学人员用平面平晶往往在测量面上产生不了干涉条纹，主要原因是什么？
单选题外径千分尺平面度用二级平晶按（）检定A光波法B光干涉法C光条纹法D干涉条纹法
问答题用平行平晶检定千分尺两测量面的平行度时，平行度如何确定？