在磁粉探伤时，缺陷处所产生的漏磁通的大小与缺陷的几何形状和方向无关
在磁粉探伤时，缺陷处所产生的漏磁通的大小与缺陷的几何形状和方向无关
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无损检测中，关于磁粉探伤特点的正确表述为（ ）。A.操作容易.检验迅速.探伤灵敏度较低B.受到试件大小和形状的限制C.可以检测材料和构件的表面和近表面缺陷D.试件表面的油脂不对磁粉探伤产生影响
下列有关缺陷所形成的漏磁通的叙述（）是正确的A、磁化强度为一定时，缺陷高度小于1mm的形状相似的表面缺陷，其漏磁通与缺陷高度无关B、缺陷离试件表面越近，缺陷漏磁通越小C、在磁化状态、缺陷种类和大小为一定时，缺陷漏磁通密度受缺陷方向影响D、交流磁化时，近表面缺陷的漏磁通比直流磁化时要小E、当磁化强度、缺陷种类和大小为一定时，缺陷处的漏磁通密度受磁化方向的影响F、c，d和e都对
下列关于缺陷形成漏磁通的叙述，正确的是（）A、缺陷离试件表面越近，形成的漏磁通越小B、在磁化状态、缺陷类型和大小为一定时，其漏磁通密度受缺陷方向影响C、交流磁化时，近表面缺陷的漏磁通比直流磁化时的漏磁通要小D、在磁场强度、缺陷类型和大小为一定时，其漏磁通密度受磁化方向影响；E、除A以外都对
单选题下列有关缺陷所形成的漏磁通的叙述（）是正确的A磁化强度为一定时，缺陷高度小于1mm的形状相似的表面缺陷，其漏磁通与缺陷高度无关B缺陷离试件表面越近，缺陷漏磁通越小C在磁化状态、缺陷种类和大小为一定时，缺陷漏磁通密度受缺陷方向影响D交流磁化时，近表面缺陷的漏磁通比直流磁化时要小E当磁化强度、缺陷种类和大小为一定时，缺陷处的漏磁通密度受磁化方向的影响Fc，d和e都对