轴类锻件最主要探测方向是：（）A、轴向直探头探伤B、径向直探头探伤C、斜探头外圆面轴向探伤D、斜探头外圆面周向探伤
在锻件探伤中出现草状回波的原因是由于探头灵敏度过高。
方形锻件垂直法探伤时，荧光屏上出现一随探头移动而游动的缺陷回波，其波幅较低但底波降低很大，该缺陷的取向可能是（）A、平行且靠近探测面B、与声束方向平行C、与探测面成较大角度D、平行且靠近底面
饼类锻件最主要探测方向是（）A、直探头端面探伤B、直探头侧面探伤C、斜探头端面探伤D、斜探头侧面探伤
在锻件直探头探伤时可能定不准近侧面缺陷的位置，其原因是（）A、侧面反射波带来干涉B、探头太大，无法移至边缘C、频率太高D、以上都不是
筒形锻件最主要探测方向是：（）A、直探头端面和外圆面探伤B、直探头外圆面轴向探伤C、斜探头外圆面轴向探伤D、以上都是
大锻件探伤时，通常采用直探头，其主要原因是（）A、锻造缺陷一般与锻造纤维方向平行B、探测面通常选择与锻造纤维方向平行的面C、锻件尺寸大，纵波探伤穿透力强D、以上三种原因都是
用直探头检验钢锻件时，引起底波明显降低或消失的因素有（）A、底面与探伤面不平行B、工件内部有倾斜的大缺陷C、工件内部有材质衰减大的部位D、以上都有可能
直探头接触法探伤时，底面回波降低或消失的原因是（）。A、 耦合不良B、 存在与声束不垂直的缺陷C、 存在与始脉冲不能分开的近表面缺陷D、 以上都可能
直探头接触法探伤时，发现缺陷回波较低，且底面回波降低或消失的原因是与工件表面呈（）。
对饼形锻件，采用直探头作径向探测是最佳的探伤方法。（）
用直探头对轴类锻件探伤时可分为径向和轴向探测。前者有利于发现轴类锻件常见的（）缺陷，后者有利于检出（）缺陷。
方形锻件垂直法探伤时，荧光屏上出现一游动缺陷回波，其波幅较低但底波降低很大，该缺陷取向可能是（）。A、平行且靠近探测面B、与声束方向平行C、与探测面成较大角度D、平行且靠近底面
单选题大锻件探伤时，通常采用直探头，其主要原因是（）A锻造缺陷一般与锻造纤维方向平行B探测面通常选择与锻造纤维方向平行的面C锻件尺寸大，纵波探伤穿透力强D以上三种原因都是
单选题用直探头在工件端面探测离侧壁极近的小缺陷时，探头最不利的探测位置是（）A尽可能靠近侧壁；B离侧壁10mm；C离侧壁一个探头直径的距离处；D离侧壁二个探头直径的距离处。
填空题用直探头对轴类锻件探伤时可分为径向和轴向探测。前者有利于发现轴类锻件常见的（）缺陷，后者有利于检出（）缺陷。
单选题筒形锻件最主要探测方向是：（）A直探头端面和外圆面探伤B直探头外圆面轴向探伤C斜探头外圆面轴向探伤D以上都是
单选题方形锻件垂直法探伤时，荧光屏上出现一游动缺陷回波，其波幅较低但底波降低很大。该缺陷取向可能是（）。A平行且靠近探测面B与声速方向平行C与探测面成较大角度D平行且靠近底面
单选题方形锻件垂直法探伤时，荧光屏上出现一游动缺陷回波，其波幅较低但底波降低很大，该缺陷取向可能是（）。A平行且靠近探测面B与声束方向平行C与探测面成较大角度D平行且靠近底面
单选题饼类锻件最主要探测方向是：（）A直探头端面探伤B直探头侧面探伤C斜探头端面探伤D斜探头侧面探伤
单选题轴类锻件最主要探测方向是：（）A轴向直探头探伤B径向直探头探伤C斜探头外圆面轴向探伤D斜探头外圆面周向探伤
单选题在锻件直探头探伤时可能定不准近侧面缺陷的位置，其原因是：（）A侧面反射波带来干涉B探头太大，无法移至边缘C频率太高D以上都不是
单选题方形锻件垂直法探伤时，荧光屏上出现一随探头移动而游动的缺陷回波，其波幅较低但底波降低很大，该缺陷的取向可能是（）A平行且靠近探测面B与声束方向平行C与探测面成较大角度D平行且靠近底面
判断题直探头在圆柱形轴类锻件外圆探伤时，发现的游动回波都是裂纹回波。A对B错
单选题用直探头检验钢锻件时，引起底波明显降低或消失的因素有（）A底面与探伤面不平行B工件内部有倾斜的大缺陷C工件内部有材质衰减大的部位D以上都有可能
单选题在锻件直探头探伤时可能定不准靠近侧壁的缺陷的位置，其原因是（）。A探头太大，无法移至边缘B侧壁反射波发生干涉C频率太高D以上都不是