用直探头检验钢锻件时,引起底波明显降低或消失的因素有()。 A、底面与探伤面不平行B、工件内部有倾斜的大缺陷C、工件内部有材质衰减大的部位D、以上全部
在用直探头进行水浸法探伤时，探头至探测面的水层距离应调节在使一次与二次界面回波之间至少出现一次()A.缺陷回波B.迟到回波C.底面回波D.侧面回波
方形锻件垂直法探伤时，荧光屏上出现一随探头移动而游动的缺陷回波，其波幅较低但底波降低很大，该缺陷的取向可能是()A.平行且靠近探测面B.与声束方向平行C.与探测面成较大角度D.平行且靠近底面
直探头纵波探伤时，工件上下表面不平行会产生（）。A、底面回波降低或消失B、底面回波不降低C、底面回波变窄D、以上都不对
方形锻件垂直法探伤时，荧光屏上出现一随探头移动而游动的缺陷回波，其波幅较低但底波降低很大，该缺陷的取向可能是（）A、平行且靠近探测面B、与声束方向平行C、与探测面成较大角度D、平行且靠近底面
斜入射横波法探测平板形试块时，探测回波中（）A、没有底面回波B、有底面回波C、有大型缺陷回波，底面回波消失D、缺陷回波和底面回波同时存在
在用直探头进行水浸法探伤时，探头至探测面的水层距离应调节在使一次与二次界面回波之间至少出现一次（）A、缺陷回波B、迟到回波C、底面回波D、侧面回波
锻钢件大平底面与探测面不平行时，会产生：（）A、无底面回波或底面回波降低B、难以发现平行探测面的缺陷C、声波穿透能力下降D、缺陷回波受底面回波影响
用直探头检验钢锻件时，引起底波明显降低或消失的因素有（）A、底面与探伤面不平行B、工件内部有倾斜的大缺陷C、工件内部有材质衰减大的部位D、以上都有可能
直探头接触法探伤时，（）要涂布耦合剂。A、探头与工件表面之间B、工件底面与空气之间C、仪器与探头之间D、以上都不对
直探头接触法探伤时，底面回波降低或消失的原因是（）。A、 耦合不良B、 存在与声束不垂直的缺陷C、 存在与始脉冲不能分开的近表面缺陷D、 以上都可能
垂直探伤时，工件底面倾斜能引起局部或整个地丧失底面回波。
直探头垂直扫查“矩形锻件”时，工件底面回波迅速降低或消失的原因是（）。A、底波被较大的面积性缺陷反射B、底波被较小的单个球状缺陷反射C、底波的能量被转换为电能而吸收D、以上都可能
斜入射横波法探测平板形试件时，探测图形中（）。A、没有底面回波B、有底面回波C、有大型缺陷回波时底面回波消失D、有大型缺陷回波时有底面回波
直探头纵波探伤时，工件上下表面不平行，会使底面回波变窄。
中等厚度钢板直探头多次反射法探伤，缺陷位于（）时，缺陷回波之间会发生迭加效应。
单探头探伤时，在近区有幅度波动较快，探头移动时水平位置不变的回波，它们可能是：（）。A、来自工件表面的杂波B、来自探头的噪声C、工件上近表面缺陷的回波D、耦合剂噪声
在脉冲反射法探伤中可根据什么判断缺陷的存在（）。A、缺陷回波B、底波或参考回波的减弱C、底波或参考回波的消失D、接收探头接收到的能量的减弱
在直探头探伤时，发现缺陷回波不高，但底波降低较大，则该缺陷可能是（）A、与表面成较大角度的平面缺陷B、反射条件很差的密集缺陷C、AB都对D、AB都不对
在直接接触法垂直探伤时，底面回波消失的原因的（）A、耦合不良B、缺陷面积大于声束截面C、存在与声束垂直的平面型缺陷D、以上都不是
单选题斜入射横波法探测平板形试件时，探测图形中（）。A没有底面回波B有底面回波C有大型缺陷回波时底面回波消失D有大型缺陷回波时有底面回波
单选题在直接接触法垂直探伤时，底面回波消失的原因的（）A耦合不良B缺陷面积大于声束截面C存在与声束垂直的平面型缺陷D以上都不是
单选题锻钢件大平底面与探测面不平行时，会产生：（）A无底面回波或底面回波降低B难以发现平行探测面的缺陷C声波穿透能力下降D缺陷回波受底面回波影响
单选题用直探头检验钢锻件时，引起底波明显降低或消失的因素有（）A底面与探伤面不平行B工件内部有倾斜的大缺陷C工件内部有材质衰减大的部位D以上都有可能
单选题直探头纵波探伤时，工件上下表面不平行会产生（）。A底面回波降低或消失B底面回波不降低C底面回波变窄D以上都不对
判断题直探头纵波探伤时，工件上下表面不平行，会使底面回波变窄。A对B错
单选题斜入射横波法探测平板形试块时，探测回波中（）A没有底面回波B有底面回波C有大型缺陷回波，底面回波消失D缺陷回波和底面回波同时存在