轴类锻件最主要探测方向是：（）A、轴向直探头探伤B、径向直探头探伤C、斜探头外圆面轴向探伤D、斜探头外圆面周向探伤
在锻件探伤中出现草状回波的原因是由于探头灵敏度过高。
饼类锻件最主要探测方向是（）A、直探头端面探伤B、直探头侧面探伤C、斜探头端面探伤D、斜探头侧面探伤
在锻件直探头探伤时可能定不准近侧面缺陷的位置，其原因是（）A、侧面反射波带来干涉B、探头太大，无法移至边缘C、频率太高D、以上都不是
筒形锻件最主要探测方向是：（）A、直探头端面和外圆面探伤B、直探头外圆面轴向探伤C、斜探头外圆面轴向探伤D、以上都是
大锻件探伤时，通常采用直探头，其主要原因是（）A、锻造缺陷一般与锻造纤维方向平行B、探测面通常选择与锻造纤维方向平行的面C、锻件尺寸大，纵波探伤穿透力强D、以上三种原因都是
饼类锻件最主要探测方向是（）A、 直探头端面检测B、 直探头侧面检测C、 斜探头端面检测D、 斜探头侧面检测
用直探头检验钢锻件时，引起底波明显降低或消失的因素有（）A、底面与探伤面不平行B、工件内部有倾斜的大缺陷C、工件内部有材质衰减大的部位D、以上都有可能
在锻件直探头探伤时可能定不准靠近侧壁的缺陷的位置，其原因是（）。A、探头太大，无法移至边缘B、侧壁反射波发生干涉C、频率太高D、以上都不是
直探头接触法探伤时，底面回波降低或消失的原因是（）。A、 耦合不良B、 存在与声束不垂直的缺陷C、 存在与始脉冲不能分开的近表面缺陷D、 以上都可能
对饼形锻件，采用直探头作径向探测是最佳的探伤方法。（）
用直探头对轴类锻件探伤时可分为径向和轴向探测。前者有利于发现轴类锻件常见的（）缺陷，后者有利于检出（）缺陷。
单探头探伤时，在近区有幅度波动较快，探头移动时水平位置不变的回波，它们可能是：（）。A、来自工件表面的杂波B、来自探头的噪声C、工件上近表面缺陷的回波D、耦合剂噪声
在直接接触法直探头探伤时，底波消失的原因是（）。A、耦合不良B、存在与声束不垂直的平面缺陷C、耦合太好D、存在与始脉冲不能分开的近表面缺陷
在直探头探伤中，当扩散声束射到侧面上时，产生波的反射，并引起（）。
单选题单斜探头探伤时，在近区有幅度波动较快，探头移动时水平位置不变的回波，它们可能是（）A来自工作表面的杂波B来自探头的噪声C工作上近表面缺陷的回波D耦合剂噪声
单选题单探头探伤时，在近区有幅度波动较快，探头移动时水平位置不变的回波，它们可能是：（）。A来自工件表面的杂波B来自探头的噪声C工件上近表面缺陷的回波D耦合剂噪声
单选题大锻件探伤时，通常采用直探头，其主要原因是（）A锻造缺陷一般与锻造纤维方向平行B探测面通常选择与锻造纤维方向平行的面C锻件尺寸大，纵波探伤穿透力强D以上三种原因都是
填空题用直探头对轴类锻件探伤时可分为径向和轴向探测。前者有利于发现轴类锻件常见的（）缺陷，后者有利于检出（）缺陷。
单选题筒形锻件最主要探测方向是：（）A直探头端面和外圆面探伤B直探头外圆面轴向探伤C斜探头外圆面轴向探伤D以上都是
单选题饼类锻件最主要探测方向是（）A 直探头端面检测B 直探头侧面检测C 斜探头端面检测D 斜探头侧面检测
单选题饼类锻件最主要探测方向是：（）A直探头端面探伤B直探头侧面探伤C斜探头端面探伤D斜探头侧面探伤
单选题轴类锻件最主要探测方向是：（）A轴向直探头探伤B径向直探头探伤C斜探头外圆面轴向探伤D斜探头外圆面周向探伤
判断题直探头在圆柱形轴类锻件外圆探伤时，发现的游动回波都是裂纹回波。A对B错
单选题用直探头检验钢锻件时，引起底波明显降低或消失的因素有（）A底面与探伤面不平行B工件内部有倾斜的大缺陷C工件内部有材质衰减大的部位D以上都有可能
单选题在锻件直探头探伤时可能定不准靠近侧壁的缺陷的位置，其原因是（）。A探头太大，无法移至边缘B侧壁反射波发生干涉C频率太高D以上都不是