在检验工件时,若无缺陷显示,则操作者应注意底面回波,若底面回波的高度剧烈下降,引起这种情况的原因可能是()A、大而平的缺陷与入射声束取向不良B、疏松C、晶粒粗大D、以上都是

在检验工件时,若无缺陷显示,则操作者应注意底面回波,若底面回波的高度剧烈下降,引起这种情况的原因可能是()

  • A、大而平的缺陷与入射声束取向不良
  • B、疏松
  • C、晶粒粗大
  • D、以上都是

相关考题:

在仪器示波屏上显示的被检工件底面反射信号称底面回波。() 此题为判断题(对,错)。

在检验零件时,若无缺陷显示,则操作者应注意底面回波高度的剧烈下降,引起 这种情况的原因( )。A.可能是疏松B.可能是大晶粒C.可能是大而平的缺陷与入射声束取向不良D.上述三种都可能

在检验工件时若无缺陷显示,则操作者应注意底面回波,若底面回波的高度剧烈下降,引起这种情况的原因可能是():A.大而平的缺陷与入射声束取向不良B.疏松C.晶粒粗大D.以上都是

直探头纵波探伤时,工件上下表面不平行会产生()。A、底面回波降低或消失B、底面回波不降低C、底面回波变窄D、以上都不对

斜入射横波法探测平板形试块时,探测回波中()A、没有底面回波B、有底面回波C、有大型缺陷回波,底面回波消失D、缺陷回波和底面回波同时存在

对于超声波检测中的脉冲反射法,若工件内存在缺陷,超声波会在缺陷处反射,仪器显示屏上会有发射脉冲T、底面回波B和缺陷回波F。

在检验零件时,若无缺陷显示,则操作者应注意底面回波高度的剧烈下降,引起这种情况的原因可能是()A、在而平的缺陷与入射声束取向不良B、疏松C、大晶粒D、上述三种都可能引起这种情况

JB/T8467-96标准规定:底波降低量BG/BF(db)中的BG表示()A、底面回波高度B、有缺陷处的底面回波高度C、无缺陷处的底面回波高度D、缺陷回波高度

锻钢件大平底面与探测面不平行时,会产生:()A、无底面回波或底面回波降低B、难以发现平行探测面的缺陷C、声波穿透能力下降D、缺陷回波受底面回波影响

垂直探伤时,工件底面倾斜能引起局部或整个地丧失底面回波。

直探头接触法探伤时,发现缺陷回波较低,且底面回波降低或消失的原因是与工件表面呈()。

纵波垂直探伤时,当试件的二次底面回波显示在时基限标度5上时,则一次底面回波和三次底面回波应显示于时基限标度()上。A、2.5和7.5B、3和7C、2和8

斜入射横波法探测平板形试件时,探测图形中()。A、没有底面回波B、有底面回波C、有大型缺陷回波时底面回波消失D、有大型缺陷回波时有底面回波

厚度为600mm的铝试件,用直探头测得一回波的传播时间为165μs,若纵波在铝中声速为6300m/s则此回波是()A、底面回波B、底面二次回波C、缺陷回波D、迟到回波

检验工件时若无缺陷波显示,工作者应注意底面回波高度的剧烈下降,引起这种情况的原因可能是什么?

单选题斜入射横波法探测平板形试件时,探测图形中()。A没有底面回波B有底面回波C有大型缺陷回波时底面回波消失D有大型缺陷回波时有底面回波

判断题对于超声波检测中的脉冲反射法,若工件内存在缺陷,超声波会在缺陷处反射,仪器显示屏上会有发射脉冲T、底面回波B和缺陷回波F。A对B错

单选题直探头纵波探伤时,工件上下表面不平行会产生()。A底面回波降低或消失B底面回波不降低C底面回波变窄D以上都不对

单选题锻钢件大平底面与探测面不平行时,会产生:()A无底面回波或底面回波降低B难以发现平行探测面的缺陷C声波穿透能力下降D缺陷回波受底面回波影响

单选题在检验零件时,若无缺陷显示,则操作者应注意底面回波高度的剧烈下降,引起这种情况的原因可能是()A在而平的缺陷与入射声束取向不良B疏松C大晶粒D上述三种都可能引起这种情况

单选题厚度为600mm的铝试件,用直探头测得一回波的传播时间为165μs,若纵波在铝中声速为6300m/s则此回波是:()A底面回波B底面二次回波C缺陷回波D迟到回波

单选题纵波垂直探伤时,当试件的二次底面回波显示在时基限标度5上时,则一次底面回波和三次底面回波应显示于时基限标度()上。A2.5和7.5B3和7C2和8

单选题在检验零件时,若无缺陷显示,则操作者应注意底面回波高度的剧烈下降,引起这种情况的原因()。A可能是疏松B可能是大晶粒C可能是大而平的缺陷与入射声束取向不良D上述三种都可能

单选题在检验工件时,若无缺陷显示,则操作者应注意底面回波,若底面回波的高度剧烈下降,引起这种情况的原因可能是()A大而平的缺陷与入射声束取向不良B疏松C晶粒粗大D以上都是

单选题JB/T8467-96标准规定:底波降低量BG/BF(db)中的BG表示()A底面回波高度B有缺陷处的底面回波高度C无缺陷处的底面回波高度D缺陷回波高度

问答题检验工件时若无缺陷波显示,工作者应注意底面回波高度的剧烈下降,引起这种情况的原因可能是什么?

单选题斜入射横波法探测平板形试块时,探测回波中()A没有底面回波B有底面回波C有大型缺陷回波,底面回波消失D缺陷回波和底面回波同时存在