用纵波水浸法探测钢材时，为防止在第一次底面回波前面出现二次界面回波，水层厚度为25mm时，能探测钢材的最大厚度为()：A.50mmB.100mmC.150mmD.200mm
在用直探头进行水浸法探伤时，探头至探测面的水层距离应调节在使一次与二次界面回波之间至少出现一次()A.缺陷回波B.迟到回波C.底面回波D.侧面回波
直探头纵波探伤时，工件上下表面不平行会产生（）。A、底面回波降低或消失B、底面回波不降低C、底面回波变窄D、以上都不对
斜入射横波法探测平板形试块时，探测回波中（）A、没有底面回波B、有底面回波C、有大型缺陷回波，底面回波消失D、缺陷回波和底面回波同时存在
在用直探头进行水浸法探伤时，探头至探测面的水层距离应调节在使一次与二次界面回波之间至少出现一次（）A、缺陷回波B、迟到回波C、底面回波D、侧面回波
钢板厚为30mm，用水浸法探伤，当水层厚度为15mm时，则第三次底面回波显示于（）A、二次界面回波之前B、二次界面回波之后C、一次界面回波之前D、不一定
JB/T8467-96标准规定：底波降低量BG/BF（db）中的BG表示（）A、底面回波高度B、有缺陷处的底面回波高度C、无缺陷处的底面回波高度D、缺陷回波高度
在水浸检验中，探头与试件水距（）A、应尽可能减小B、使二次界面波在底面回波之前C、使二次界面波在底面回波之后D、应尽可能的大
锻钢件大平底面与探测面不平行时，会产生：（）A、无底面回波或底面回波降低B、难以发现平行探测面的缺陷C、声波穿透能力下降D、缺陷回波受底面回波影响
直探头接触法探伤时，发现缺陷回波较低，且底面回波降低或消失的原因是与工件表面呈（）。
纵波垂直探伤时，当试件的二次底面回波显示在时基限标度5上时，则一次底面回波和三次底面回波应显示于时基限标度（）上。A、2.5和7.5B、3和7C、2和8
同样厚度的两个金属试件，一个可测得五、六次底面回波，另一个只测得二次底面回波，则后者的声阻抗大。
斜入射横波法探测平板形试件时，探测图形中（）。A、没有底面回波B、有底面回波C、有大型缺陷回波时底面回波消失D、有大型缺陷回波时有底面回波
同样厚度的两个金属试件，一个可测得五六次底面回波，另一个只测得二次底面回波，则后者的（）A、晶粒粗大B、声阻抗大C、晶粒细小均匀
直径40mm、长100mm的钢试件，用尺寸相当的直探头在端面探测时，则迟到回波至底面回波的间距是（）。
单选题斜入射横波法探测平板形试件时，探测图形中（）。A没有底面回波B有底面回波C有大型缺陷回波时底面回波消失D有大型缺陷回波时有底面回波
单选题锻钢件大平底面与探测面不平行时，会产生：（）A无底面回波或底面回波降低B难以发现平行探测面的缺陷C声波穿透能力下降D缺陷回波受底面回波影响
单选题钢板厚为30mm，用水浸法探伤，当水层厚度为15mm时，则第三次底面回波显示于（）A二次界面回波之前B二次界面回波之后C一次界面回波之前D不一定
单选题同样厚度的两个金属试件，一个可测得五六次底面回波，另一个只测得二次底面回波，则后者的（）A晶粒粗大B声阻抗大C晶粒细小均匀
单选题纵波垂直探伤时，当试件的二次底面回波显示在时基限标度5上时，则一次底面回波和三次底面回波应显示于时基限标度（）上。A2.5和7.5B3和7C2和8
单选题用纵波水浸法探测钢材时，为防止在第一次底面回波前面出现二次界面回波，水层厚度为25mm时，能探测钢材的最大厚度为（）A50mmB100mmC150mmD200mm
单选题厚度为600mm的铝试件，用直探头测得一回波的传播时间为165μs，若纵波在铝中声速为6300m/s则此回波是：（）A底面回波B底面二次回波C缺陷回波D迟到回波
单选题JB/T8467-96标准规定：底波降低量BG/BF（db）中的BG表示（）A底面回波高度B有缺陷处的底面回波高度C无缺陷处的底面回波高度D缺陷回波高度
判断题同样厚度的两个金属试件，一个可测得五、六次底面回波，另一个只测得二次底面回波，则后者的声阻抗大。A对B错
单选题直探头纵波探伤时，工件上下表面不平行会产生（）。A底面回波降低或消失B底面回波不降低C底面回波变窄D以上都不对
填空题直径40mm、长100mm的钢试件，用尺寸相当的直探头在端面探测时，则迟到回波至底面回波的间距是（）。
单选题斜入射横波法探测平板形试块时，探测回波中（）A没有底面回波B有底面回波C有大型缺陷回波，底面回波消失D缺陷回波和底面回波同时存在