在仪器示波屏上显示的被检工件底面反射信号称底面回波。() 此题为判断题(对，错)。
在检验零件时，若无缺陷显示，则操作者应注意底面回波高度的剧烈下降，引起 这种情况的原因（ ）。A.可能是疏松B.可能是大晶粒C.可能是大而平的缺陷与入射声束取向不良D.上述三种都可能
在阴极射线示波屏上显示的被检工件底面反射信号，称为（ ）。A.杂波B.始波C.发射脉冲D.底面回波
在检验工件时若无缺陷显示，则操作者应注意底面回波，若底面回波的高度剧烈下降，引起这种情况的原因可能是()：A.大而平的缺陷与入射声束取向不良B.疏松C.晶粒粗大D.以上都是
直探头纵波探伤时，工件上下表面不平行会产生（）。A、底面回波降低或消失B、底面回波不降低C、底面回波变窄D、以上都不对
在检验工件时，虽无缺陷回波，但底波高度剧烈下降，这可能是由于工件内的缺陷大而平且与入射声束取向不良，或存在疏松，晶粒粗大。
对球墨铸铁探伤时，可采用下列哪种方法判断铸件质量（）A、底面回波次数B、杂波高度C、缺陷波幅度D、缺陷波占宽
JB/T8467-96标准规定：底波降低量BG/BF（db）中的BG表示（）A、底面回波高度B、有缺陷处的底面回波高度C、无缺陷处的底面回波高度D、缺陷回波高度
在检验工件时，若无缺陷显示，则操作者应注意底面回波，若底面回波的高度剧烈下降，引起这种情况的原因可能是（）A、大而平的缺陷与入射声束取向不良B、疏松C、晶粒粗大D、以上都是
垂直探伤时，工件底面倾斜能引起局部或整个地丧失底面回波。
与声束不垂直的光滑平面状缺陷反射波的显示不是（）。A、回波幅度与底面反射波高度相差不大B、底面反射完全消失C、缺陷反射波高于底面回波D、底波与缺陷波同时存在
直探头接触法探伤时，发现缺陷回波较低，且底面回波降低或消失的原因是与工件表面呈（）。
纵波垂直探伤时，当试件的二次底面回波显示在时基限标度5上时，则一次底面回波和三次底面回波应显示于时基限标度（）上。A、2.5和7.5B、3和7C、2和8
水侵检验时，探头与工件间的水距应使试件的二次界面回波落在试件（）回波之后。
在检验零件时，若无缺陷显示，则操作者应注意底面回波高度的剧烈下降，引起这种情况的原因（）。A、可能是疏松B、可能是大晶粒C、可能是大而平的缺陷与入射声束取向不良D、上述三种都可能
PUP显示雷达回波时，所标注的回波所在高度是假定大气为（）情况下计算得到的高度。
在阴极射线示波屏上显示的被检工件底面反射信号，称为（）。A、杂波B、始波C、发射脉冲D、底面回波
检验工件时若无缺陷波显示，工作者应注意底面回波高度的剧烈下降，引起这种情况的原因可能是什么？
单选题直探头纵波探伤时，工件上下表面不平行会产生（）。A底面回波降低或消失B底面回波不降低C底面回波变窄D以上都不对
单选题对球墨铸铁探伤时，可采用下列哪种方法判断铸件质量（）A底面回波次数B杂波高度C缺陷波幅度D缺陷波占宽
判断题在检验工件时，虽无缺陷回波，但底波高度剧烈下降，这可能是由于工件内的缺陷大而平且与入射声束取向不良，或存在疏松，晶粒粗大。A对B错
单选题在检验零件时，若无缺陷显示，则操作者应注意底面回波高度的剧烈下降，引起这种情况的原因可能是（）A在而平的缺陷与入射声束取向不良B疏松C大晶粒D上述三种都可能引起这种情况
单选题纵波垂直探伤时，当试件的二次底面回波显示在时基限标度5上时，则一次底面回波和三次底面回波应显示于时基限标度（）上。A2.5和7.5B3和7C2和8
单选题在检验工件时，若无缺陷显示，则操作者应注意底面回波，若底面回波的高度剧烈下降，引起这种情况的原因可能是（）A大而平的缺陷与入射声束取向不良B疏松C晶粒粗大D以上都是
单选题JB/T8467-96标准规定：底波降低量BG/BF（db）中的BG表示（）A底面回波高度B有缺陷处的底面回波高度C无缺陷处的底面回波高度D缺陷回波高度
单选题在阴极射线示波屏上显示的被检工件底面反射信号，称为（）。A杂波B始波C发射脉冲D底面回波