X射线荧光分析连续X射线中短波限与（）有关。A、X光管电流B、X光管电压C、X光管靶材D、连续谱

X射线荧光分析连续X射线中短波限与（）有关。

  • A、X光管电流
  • B、X光管电压
  • C、X光管靶材
  • D、连续谱

相关考题：

在X射线荧光分析中，元素的原子序数越大，产生的X射线荧光波长越小。
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下面有关连续X射线的解释，正确的是（）。A、连续X射线是高速电子与靶物质的原子核电场相互作用的结果。B、连续X射线是高速电子与靶物质轨道电子相互作用的结果。C、连续X射线的质与管电流无关。D、连续X射线的最大能量决定于靶物质的原子序数。E、连续X射线的最大能量决定于管电压。
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原子受高能辐射，其外层电子发生能级跃迁，发射出特征X射线（X射线荧光），通过测定其强度进行定量分析的方法被称为X射线荧光分析法。
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原子受高能辐射，其内层电子发生能级跃迁，发射出特征X射线（X射线荧光），通过测定其强度进行定量分析的方法被称为（）A、原子荧光分析法B、X射线荧光分析法C、X射线吸收分析法D、X射线发射分析法
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连续X射线的波长与管电压有关
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X射线荧光分析中特征X射线光谱是由一组表示发光元素的（）波长所组成，其中各条特征谱线的（）强度各不相同。A、不连续B、连续C、散射D、相对
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X射线荧光光谱分析中，连续光谱激发样品时，连续光谱中的散射线是构成背景的主要来源，会影响分析元素的检测限，尤其对痕量元素。
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X射线荧光定量分析是对（）X射线的强度进行测量。
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X射线荧光仪可进行（）分析。
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X射线荧光的（）与元素的种类有关，据此可以进行定性分析，X射线荧光的（）与元素的含量有关，据此可以进行定量分析。A、谱线B、波长C、特征线D、强度
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在x射线荧光分析法中，由x射线管直接产生的x射线是（）。A、一次X射线B、二次X射线C、次级射线D、X荧光
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由X射线光管产生的X射线是（）。A、连续X射线B、特征X射线C、连续X射线和特征X射线
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X射线荧光光谱仪上，采用W靶X射线管适于分析重元素：Cr靶X射线管适于分析轻元素，而（）靶X射线管则在一定程度上，却对轻、重元素的分析都能兼顾。
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X射线荧光分析用于激发试样和产生背景的主要能源是（）。A、特征光谱B、连续光谱C、带状光谱D、散射线
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X射线荧光分析激发试样和产生背景的主要能源是（）。A、特征光谱B、散射线C、带状光谱D、连续光谱
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在X射线荧光分析法中，X荧光是指（）。A、一次X射线B、二次X射线C、由X射线管直接产生的X射线D、由高速电子流产生的X射线
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X射线荧光光谱内标法，即把一定量的内标元素加入到标准试料及分析试料中，以标准试料中分析元素与内标元素的X射线荧光强度比与分析元素含量绘制校准曲线。测定分析试料的分析元素与内标元素的X射线荧光强度比，从校准曲线求得分析元素含量。
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X射线荧光仪在以X射线管作为激发源时，原级X射线光谱中连续光谱是构成（）的主要成分。A、激发B、叠加C、散射D、背景
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在X射线管中，高速运动的电子与靶相撞，能够产生连续X射线，在特殊情况下也能产生（）。A、特征X射线B、示性X射线C、荧光辐射D、以上都对
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在X射线实时成像中，射线照射工件传到荧光屏上所产生的显示与射线强度有关，而与（）无关。
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连续X射线波长与曝光时间有关。
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简述能量色散X射线荧光分析中X射线探测器应满足哪些要求？
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问答题特征X射线与荧光X射线的产生机理有何异同？某物质的K系荧光X射线波长是否等于它的K系特征X射线波长？
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单选题原子受高能辐射，其内层电子发生能级跃迁，发射出特征X射线（X射线荧光），通过测定其强度进行定量分析的方法被称为（）A原子荧光分析法BX射线荧光分析法CX射线吸收分析法DX射线发射分析法
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多选题下面有关连续X射线的解释，正确的是（）。A连续X射线是高速电子与靶物质的原子核电场相互作用的结果。B连续X射线是高速电子与靶物质轨道电子相互作用的结果。C连续X射线的质与管电流无关。D连续X射线的最大能量决定于靶物质的原子序数。E连续X射线的最大能量决定于管电压。
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问答题分析下列荧光辐射产生的可能性，为什么？（1）用CuKαX射线激发CuKα荧光辐射；（2）用CuKβX射线激发CuKα荧光辐射；（3）用CuKαX射线激发CuLα荧光辐射。
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判断题原子受高能辐射，其外层电子发生能级跃迁，发射出特征X射线（X射线荧光），通过测定其强度进行定量分析的方法被称为X射线荧光分析法。A对B错
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