问答题特征X射线和荧光X射线产生的机理有何异同?某物质的K系荧光X射线是否等于它的K系特征X射线?

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特征X射线和荧光X射线产生的机理有何异同?某物质的K系荧光X射线是否等于它的K系特征X射线?

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当X射线管电压低于临界电压时仅可以产生连续X射线;当X射线管电压超过临界电压就可以产生特征X射线和连续X射线。()

X射线荧光仪样品室抽真空,其目的是为了减少空气对特征X射线光谱的()。

在X射线荧光分析中,元素的原子序数越大,产生的X射线荧光波长越小。

X射线荧光分析中特征X射线光谱的产生过程可以分两步:第一步是利用入射量子的能量激发,第二步则是以特征X射线(荧光)的形式放出能量。

K系特征X射线

原子受高能辐射,其外层电子发生能级跃迁,发射出特征X射线(X射线荧光),通过测定其强度进行定量分析的方法被称为X射线荧光分析法。

原子受高能辐射,其内层电子发生能级跃迁,发射出特征X射线(X射线荧光),通过测定其强度进行定量分析的方法被称为()A、原子荧光分析法B、X射线荧光分析法C、X射线吸收分析法D、X射线发射分析法

高能X射线照射到物质上以后,一般会出现以下哪几种X射线()A、荧光X射线B、散射X射线C、衍射X射线D、透过X射线

X荧光的特征能量和强度是X射线荧光光谱定性和定量分析的基础。

X射线荧光仪在以X射线管作为激发源时,原级X射线光谱中特征光谱是用于激发样品的主要光源。

波长色散X射线荧光光谱仪使用滤光片的目的是消除或者降低来自X射线管发射的原级X射线谱,尤其是靶材的特征X射线谱对待测元素的干扰。

当用X射线照射物质时,除了发生()等现象外,还能产生特征X射线荧光。A、散射B、吸收C、热D、连续线

在x射线荧光分析法中,由x射线管直接产生的x射线是()。A、一次X射线B、二次X射线C、次级射线D、X荧光

由X射线光管产生的X射线是()。A、连续X射线B、特征X射线C、连续X射线和特征X射线

在X射线荧光分析法中,X荧光是指()。A、一次X射线B、二次X射线C、由X射线管直接产生的X射线D、由高速电子流产生的X射线

物质受到射线的作用激发,退激后可放出()。A、γ射线B、特征X射线C、荧光D、俄歇电子E、内转换电子

在X射线管中,高速运动的电子与靶相撞,能够产生连续X射线,在特殊情况下也能产生()。A、特征X射线B、示性X射线C、荧光辐射D、以上都对

试从能级跃迁机理比较原子发射光谱、原子荧光光谱和X-射线荧光光谱的异同。

简述特征X射线产生的机理?

下列元素中,只能产生K系X射线的是()A、SB、FeC、CD、He

X射线荧光和X射线有什么区别?

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