在X射线荧光分析中，一个理想的待测固体试样应满足（）A、有代表性B、试样均匀C、表面平整、光洁、无裂纹D、试样有足够厚度，不变形

在X射线荧光分析中，一个理想的待测固体试样应满足（）

  • A、有代表性
  • B、试样均匀
  • C、表面平整、光洁、无裂纹
  • D、试样有足够厚度，不变形

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原子化器的主要作用是A、将试样中待测元素转化为基态原子B、将试样中待测元素转化为激发态原子C、将试样中待测元素转化为中性分子D、将试样中待测元素转化为离子E、将试样中待测元素转化为基态分子
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X 射线衍射分析的粉末试样必须满足两个条件:( )和( )。
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在X射线荧光分析中，元素的原子序数越大，产生的X射线荧光波长越小。
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X射线荧光光谱标准加入法可通过（）求得试样的分析结果。A、计算法B、实验C、作图法D、回归方程
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X荧光定量分析方法从样品制备的角度出发，可分为（）、熔融法、固体试样法、薄试样法。
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X射线荧光中所谓的基体，是指整个分析试样的元素，但不包括（）。
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X射线荧光分析时基体效应的基体，是指分析时试样中除（）元素本身外其它所有的元素。A、气体B、惰性C、分析D、氧化性
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X射线荧光光谱法中，当试样的有效照射面积缩小时，元素的X射线荧光强度（）。A、增大B、减小C、不变D、无变化
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设一次X射线以一定角度入射到试样表面，当各种实验条件固定不变时，产生的荧光X射线的强度与待测元素在试样中的（）成正比。如果事先建立了两者之间的关系，即可据此关系进行（），建立两者之间关系的过程即为（）。
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X射线荧光光谱法分析线的强度与分析面的磨纹方向有关，因此，在测量时采取转动试样的方法，以减少误差。
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X射线荧光分析粉末试样时，采用玻璃熔片法可以消除（）带来的分析误差。A、粒度效应B、吸收C、增强D、矿物效应
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X射线荧光光谱分析的试样，可以是固态，也可以是水溶液。试样制备的情况对测定误差无影响。
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在x射线荧光分析法中，由x射线管直接产生的x射线是（）。A、一次X射线B、二次X射线C、次级射线D、X荧光
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在X射线光谱分析中，光管产生的X射线波长应（）样品中待测元素的X射线波长。A、小于B、等于C、大于
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X射线荧光分析理想试样应满足条件是什么？
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X射线荧光分析用于激发试样和产生背景的主要能源是（）。A、特征光谱B、连续光谱C、带状光谱D、散射线
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在X荧光内标元素加入法中，对于原子序数（Z）大于23号的待测元素的Kα线，原子序数为的（）元素是理想的内标元素。
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X射线荧光分析激发试样和产生背景的主要能源是（）。A、特征光谱B、散射线C、带状光谱D、连续光谱
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X射线荧光光谱分析是相对分析方法，需要通过测试（）来确定待测样品的含量。
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X射线荧光光谱仪中的第一准直器设置在试样与（）之间。A、X射线管B、晶体C、探测器
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在X射线荧光分析法中，X荧光是指（）。A、一次X射线B、二次X射线C、由X射线管直接产生的X射线D、由高速电子流产生的X射线
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简述X射线荧光分析技术中荧光产额的意义。
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简述能量色散X射线荧光分析中X射线探测器应满足哪些要求？
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原子荧光发射强度仅与试样中待测元素的含量有关，而与激发光源的强度无关。
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用内标法进行X射线荧光进行定量分析，选择内标物应遵循（）A、内标物与被测物的激发X射线波长相近，基体对两者荧光吸收相近B、内标物与被测物的激发X射线波长相差大，基体对两者荧光吸收相近C、内标物与被测物的激发X射线波长相近，，基体对两者荧光吸收相差大D、两者的激发X射线波长相差大，基体对两者荧光吸收相差大
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单选题用内标法进行X射线荧光进行定量分析，选择内标物应遵循（）A内标物与被测物的激发X射线波长相近，基体对两者荧光吸收相近B内标物与被测物的激发X射线波长相差大，基体对两者荧光吸收相近C内标物与被测物的激发X射线波长相近，，基体对两者荧光吸收相差大D两者的激发X射线波长相差大，基体对两者荧光吸收相差大
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单选题在待测试样中掺入一定含量的标准物质，把试样中待测相的某根衍射线条强度与掺入试样中含量已知的标准物质的某根衍射线条相比较，从而获得待测相含量的定量分析方法称为（）A外标法B内标法C直接比较法DK值法
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