JB/T4730标准规定，缺陷磁痕的显示记录可采用（）、录像和可剥性塑料薄膜等方式记录。
对于缺陷的记录可采用照相、录相和可剥性塑料薄膜等方法记录，同时应用草图 标示。
JB/T4730.4-2005标准规定：两条或两条以上缺陷磁痕在同一直线上且间距不大于2mm时，按一条磁痕处理，其长度为两条磁痕之和加间距。
JB/T4730.4-2005标准规定：当辩认细小缺陷磁痕时应用2～10倍放大镜进行观察。
JB/T4730.4-2005标准对缺陷磁痕显示记录是如何要求的？
按照JB/T4730.5-2005的规定，缺陷的显示记录可采用（）、（）、（）等方式记录，同时用草图标示。
JB/T4730.4-2005标准规定：长宽比大于3的缺陷磁痕，按线性缺陷处理，长宽比小于3的缺陷磁痕，按圆形缺陷处理。
JB/T4730.4-2005标准对磁痕显示的分类是按磁痕的产生原因、形状和方向进行的，没有涉及缺陷的定性。
按照NB/T47013.5-2015的规定，缺陷的显示记录可采用以下那些方式记录，同时用草图标示（）A、照相B、录像C、可剥性塑料薄膜D、以上全是
JB/T4730.4-2005标准规定：磁粉检测时，长度小于等于0.5mm的缺陷磁痕不计。
JB/T4730.4-2005标准规定：磁粉检测用的磁探机应定期进行校验，并有记录可查。
JB/T4730.4-2005标准规定：缺陷磁痕的观察应在磁痕形成后立即进行。
JB/T4730-2005规定：着色渗透检测时，缺陷的显示记录可采用照相、录像和可剥性塑料薄膜等方式记录，同时应用草图进行标示。
判断题JB/T4730.4-2005标准规定：当辩认细小缺陷磁痕时应用2～10倍放大镜进行观察。A对B错
判断题JB/T4730.4-2005标准规定：两条或两条以上缺陷磁痕在同一直线上且间距不大于2mm时，按一条磁痕处理，其长度为两条磁痕之和加间距。A对B错
判断题JB/T4730.4-2005标准规定：磁粉检测时，长度小于等于0.5mm的缺陷磁痕不计。A对B错
判断题JB/T4730.4-2005标准规定：长宽比大于3的缺陷磁痕，按线性缺陷处理，长宽比小于3的缺陷磁痕，按圆形缺陷处理。A对B错
判断题JB/T4730.4-2005标准规定：缺陷磁痕显示的记录可采用照相、录像和可剥性塑料薄膜等方式记录，同时应用草图标示。A对B错
填空题JB/T4730标准规定，缺陷磁痕的显示记录可采用（）、录像和可剥性塑料薄膜等方式记录。
填空题按照JB/T4730.5-2005的规定，缺陷的显示记录可采用（）、（）、（）等方式记录，同时用草图标示。
判断题JB/T4730.4-2005标准规定：磁粉检测用的磁探机应定期进行校验，并有记录可查。A对B错
判断题JB/T4730-2005规定：着色渗透检测时，缺陷的显示记录可采用照相、录像和可剥性塑料薄膜等方式记录，同时应用草图进行标示。A对B错
问答题JB/T4730.4-2005标准对缺陷磁痕显示记录是如何要求的？
判断题对于缺陷的记录可采用照相、录相和可剥性塑料薄膜等方法记录，同时应用草图 标示。A对B错
判断题JB/T4730.4-2005标准对磁痕显示的分类是按磁痕的产生原因、形状和方向进行的，没有涉及缺陷的定性。A对B错
判断题JB/T4730.4-2005标准规定：缺陷磁痕的观察应在磁痕形成后立即进行。A对B错
单选题按照NB/T47013.5-2015的规定，缺陷的显示记录可采用以下那些方式记录，同时用草图标示（）A照相B录像C可剥性塑料薄膜D以上全是