JB/T4730标准规定，缺陷磁痕的显示记录可采用（）、录像和可剥性塑料薄膜等方式记录。
按照NB/T47013.5-2015的规定，在5℃～50℃的温度条件下，渗透剂持续时间一般不应少于10min
对于缺陷的记录可采用照相、录相和可剥性塑料薄膜等方法记录，同时应用草图 标示。
C型显示即是用示波器或记录仪显示缺陷在平面视图上的分布。
设计草图包括（）A、记录性草图B、研究性草图C、记录性草图、研究性草图D、思维性草图
按照JB/T4730.5-2005的规定，缺陷的显示记录可采用（）、（）、（）等方式记录，同时用草图标示。
按照NB/T47013.5-2015的规定，渗透探伤方法的选择应考虑哪些因素？试举例说明。
按照NB/T47013.5-2015的规定，缺陷长轴方向与工件（轴类或管类）轴线或母线的夹角大于或等于45°时，按横向缺陷处理。紧固件和轴类零件不允许任何横向缺陷显示
按照NB/T47013.5-2015的规定，观察显示应在显像剂施加后10min～60min内进行。如显示的大小不发生变化，也可超过上述时间
NB/T47013.5-2015对黑光灯有哪些要求？
JB/T4730.4-2005标准规定：缺陷磁痕显示的记录可采用照相、录像和可剥性塑料薄膜等方式记录，同时应用草图标示。
按照NB/T47013.5-2015的规定，对于奥氏体钢和钛及钛合金材料，一定量渗透检测剂蒸发后残渣中的氯、氟元素含量的重量比不得超过1%。
按照NB/T47013.5-2015的规定，缺陷的显示记录可采用以下那些方式记录，同时用草图标示（）A、照相B、录像C、可剥性塑料薄膜D、以上全是
采用溶剂去除型着色探伤时，按照NB/T47013.5-2015的规定，应该怎样去除多余的渗透剂？
以下不属于探测原始记录的是（）。A、探查草图B、控制点和管线点的观测记录C、检查和开挖验证记录D、使用仪器的检验校准记录
以平面视图显示或描记缺陷的显示方式，称为（）。A、C型显示B、A型显示C、X轴图表记录D、带状图表记录
变配电所应有以下那些记录（）A、抄表记录和值班记录B、设备缺陷记录C、设备试验、检修记录D、设备异常及事故记录
判断题按照NB/T47013.5-2015的规定，在5℃～50℃的温度条件下，渗透剂持续时间一般不应少于10minA对B错
判断题按照NB/T47013.5-2015的规定，观察显示应在显像剂施加后10min～60min内进行。如显示的大小不发生变化，也可超过上述时间A对B错
问答题采用溶剂去除型着色探伤时，按照NB/T47013.5-2015的规定，应该怎样去除多余的渗透剂？
填空题JB/T4730标准规定，缺陷磁痕的显示记录可采用（）、录像和可剥性塑料薄膜等方式记录。
填空题按照JB/T4730.5-2005的规定，缺陷的显示记录可采用（）、（）、（）等方式记录，同时用草图标示。
单选题以平面视图显示或描记缺陷的显示方式，称为（）。AC型显示BA型显示CX轴图表记录D带状图表记录
判断题JB/T4730.4-2005标准规定：缺陷磁痕显示的记录可采用照相、录像和可剥性塑料薄膜等方式记录，同时应用草图标示。A对B错
判断题对于缺陷的记录可采用照相、录相和可剥性塑料薄膜等方法记录，同时应用草图 标示。A对B错
判断题按照NB/T47013.5-2015的规定，缺陷长轴方向与工件（轴类或管类）轴线或母线的夹角大于或等于45°时，按横向缺陷处理。紧固件和轴类零件不允许任何横向缺陷显示A对B错
问答题按照NB/T47013.5-2015的规定，渗透探伤方法的选择应考虑哪些因素？试举例说明。