下列（）探伤中最可能使用25MHz的探头。A、液浸探伤B、接触法垂直探伤C、接触法表面探伤D、以上都不对
垂直探伤时，工件探测面与底面不平行，底波将（）或（）
用25兆赫硫酸锂晶片制的探头最适宜采用（）探伤A、纵波接触法B、水浸探伤法C、横波接触法D、表面波接触法
在直接接触法直探头检测时，底波消失的原因是（）。A、耦合不良B、存在与声束不垂直的平面缺陷C、存在与始脉冲不能分开的近表面缺陷D、以上都可能造成底波消失
接触法垂直探伤中，造成底波幅度降低的原因可能是（）A、耦合不良B、存在与声束不垂直的缺陷；C、存在与始脉冲不能分开的近表面缺陷D、以上都是
在接触法超声波纵波垂直入射探伤中，存在上盲区的主要原因是（）A、近场效应影响B、仪器的阻塞时间影响C、探头的始波占宽影响D、以上都是
锻件探伤中，引起底波降低或消失的原因有（）。A、 探头接触不良B、 遇到了材质衰减大的部位C、 工件底面不平整D、 以上都对
直探头接触法探伤时，底面回波降低或消失的原因是（）。A、 耦合不良B、 存在与声束不垂直的缺陷C、 存在与始脉冲不能分开的近表面缺陷D、 以上都可能
锻件接触法探伤中，如果探伤仪的“重复频率”调得过高，可能发生“幻像波”。
直探头接触法探伤时，发现缺陷回波较低，且底面回波降低或消失的原因是与工件表面呈（）。
接触法超声波探伤，用底波高度法调整灵敏度时可不考虑耦合差，但是对厚工件深部位的缺陷应进行（）补偿。
在直接接触法直探头探伤时，底波消失的原因是（）。A、耦合不良B、存在与声束不垂直的平面缺陷C、耦合太好D、存在与始脉冲不能分开的近表面缺陷
焊缝超声波探伤，与焊缝平行的缺陷，最合适的探伤方法是（）。A、表面波接触法B、纵波接触法C、横波法D、穿透法
接触法探伤中，入射面显示波也称为（）。A、发射脉冲B、始脉冲C、基面反射波D、一次发射波
方形锻件垂直法探伤时，荧光屏上出现一游动缺陷回波，其波幅较低但底波降低很大，该缺陷取向可能是（）。A、平行且靠近探测面B、与声束方向平行C、与探测面成较大角度D、平行且靠近底面
单选题用25兆赫硫酸锂晶片制的探头最适宜采用（）探伤A纵波接触法B水浸探伤法C横波接触法D表面波接触法
单选题接触法探伤中，入射面显示波也称为（）。A发射脉冲B始脉冲C基面反射波D一次发射波
单选题焊缝超声波探伤，与焊缝平行的缺陷，最合适的探伤方法是（）。A表面波接触法B纵波接触法C横波法D穿透法
单选题接触法垂直探伤中，造成底波幅度降低的原因可能是（）A耦合不良B存在与声束不垂直的缺陷；C存在与始脉冲不能分开的近表面缺陷D以上都是
问答题用超生波探伤时，底波消失可能是什么原因造成的？
单选题在直接接触法直探头探伤时，底波消失的原因是：（）A耦合不良B存在与声束不垂直的平面缺陷C存在与始脉冲不能分开的近表面缺陷D以上都是
多选题在直接接触法直探头探伤时，底波消失的原因可能有（）A耦合不良B存在与声束不垂直的平面缺陷C存在与始脉冲不能分开的近表面缺陷D工件材料衰减过大
单选题在接触法超声波纵波垂直入射探伤中，存在上盲区的主要原因是（）A近场效应影响B仪器的阻塞时间影响C探头的始波占宽影响D以上都是
单选题下列（）探伤中最可能使用25MHz的探头。A液浸探伤B接触法垂直探伤C接触法表面探伤D以上都不对
问答题钢板探伤中，底波消失，可能是由于什么原因造成的？
单选题在直接接触法直探头检测时，底波消失的原因是（）。A耦合不良B存在与声束不垂直的平面缺陷C存在与始脉冲不能分开的近表面缺陷D以上都可能造成底波消失