在超声波探伤中由于仪器影响反射波高的因素是()。A.水平线性B.垂直线性C.发射功率D.上述都有
A型扫描显示，“盲区”是指：（）A、近场区B、声束扩散角以外区域C、始脉冲宽度和仪器阻塞恢复时间D、以上均是
超声探伤盲区的大小与下列因素中有关的是（）A、发射脉冲宽度B、放大器阻塞时间C、探头性能及仪器调整D、以上都是
在下列方法中，适合于粗晶材料探伤的是（）A、采用大直径、低频、纵波、窄脉冲探头探伤B、将接触法探伤改为液浸法探伤C、采用小直径探头探伤D、以上都是
超声波在波板中传播时，因受表面影响，能产生纵波与横波相组合的一种复合波，即是（）A、板波B、兰姆波C、莱姆波D、以上都是
在相同增益电平情况下，接触法直探头的空载始波占宽与负载始波占宽（）A、两者相同B、前者大于后者C、后者大于前者D、以上都不对
在直接接触法直探头探伤时，底波消失的原因是（）A、耦合不良B、存在与声束不垂直的平面缺陷C、存在与始脉冲不能分开的近表面缺陷D、以上都是
A型扫描显示，“盲区”指（）A、近场区B、声束扩散角C、始脉冲宽度和仪器阻塞恢复时间D、以上都是
钢板超声波探伤主要应采用：（）A、纵波直探头B、表面波探头C、横波直探头D、聚集探头
管材横波接触法探伤时，入射角的允许范围与（）有关A、探头楔块中的纵波声速B、管材中的纵，横波声速C、管子的规格D、以上全部
斜角探伤时，焊缝中的近表面缺陷不容易探测出来，其原因是（）A、近场效应B、受分辨力影响C、盲区D、受反射波影响
A型扫描显示中，“盲区”是指（）。A、近场区B、声束扩散角以外的区域C、始脉冲宽度和仪器阻塞恢复时间D、以上都不对
A型扫描显示中，（）是指始脉冲宽度和仪器阻塞的恢复时间。A、近场区B、半扩散区C、盲区D、A、B和C
超声波探伤中，“盲区”是指（）。A、 近场区B、 声束扩散角以外的区域C、 始脉冲宽度和仪器阻塞恢复时间D、 以上都对
A型扫描显示中，（）是指始脉冲宽度和仪器阻塞恢复时间。A、 “近场区”B、 “半扩散区”C、 “盲区”D、 以上都不对
在超声波探伤中由于仪器影响反射波高的因素是（）A、水平线性B、垂直线性C、发射功率D、上述都有
在直接接触法直探头探伤时，底波消失的原因是（）。A、耦合不良B、存在与声束不垂直的平面缺陷C、耦合太好D、存在与始脉冲不能分开的近表面缺陷
在超声波探伤中由于探头影响反射波高度的因素有（）A、探头型式B、晶片尺寸C、波束方向D、上述都有
单选题A型扫描显示，“盲区”指（）A近场区B声束扩散角C始脉冲宽度和仪器阻塞恢复时间D以上都是
单选题在下列方法中，适合于粗晶材料探伤的是（）A采用大直径、低频、纵波、窄脉冲探头探伤B将接触法探伤改为液浸法探伤C采用小直径探头探伤D以上都是
单选题在直接接触法直探头探伤时，底波消失的原因是：（）A耦合不良B存在与声束不垂直的平面缺陷C存在与始脉冲不能分开的近表面缺陷D以上都是
单选题A型扫描显示中，（）是指始脉冲宽度和仪器阻塞恢复时间。A“近场区”B“半扩散区”C“盲区”D以上都不对
单选题在相同增益电平情况下，接触法直探头的空载始波占宽与负载始波占宽（）A两者相同B前者大于后者C后者大于前者D以上都不对
单选题超声探伤盲区的大小与下列因素中有关的是（）A发射脉冲宽度B放大器阻塞时间C探头性能及仪器调整D以上都是
单选题斜角探伤时，焊缝中的近表面缺陷不容易探测出来，其原因是（）A近场效应B受分辨力影响C盲区D受反射波影响
单选题在接触法超声波纵波垂直入射探伤中，存在上盲区的主要原因是（）A近场效应影响B仪器的阻塞时间影响C探头的始波占宽影响D以上都是
单选题超声波探伤中，“盲区”是指（）。A近场区B声束扩散角以外的区域C始脉冲宽度和仪器阻塞恢复时间D以上都对