判断题在维修汽车电子装置时,用万用表再配合对电路功能的分析,可以很粗略地测试集成电路的好坏,主要采用测试集成电路的引脚电阻或电压两种方法。()A对B错

判断题
在维修汽车电子装置时,用万用表再配合对电路功能的分析,可以很粗略地测试集成电路的好坏,主要采用测试集成电路的引脚电阻或电压两种方法。()
A

B


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二次小线回路如有,晶体管,集成电路,电子元件时,该部位的检查可以使用摇表测试,不应使用万用表测试回路是否接通。

在铅蓄电池的内阻测量时()A、可以用万用表测试B、不可以用万用表测试C、充足电后可以用万用表测试D、放完电后可以用万用表测试

在维修汽车电子装置时,用万用表再配合对电路功能的分析,可以很粗略地测试集成电路的好坏,主要采用测试集成电路的引脚电阻或电压两种方法。()

集成电路的电路符号通常只能表示集成电路引脚的数量和位置。()

计算机采用的逻辑元件的发展顺序是()A、晶体管、电子管、集成电路、大规模集成电路B、电子管、晶体管、集成电路、大规模集成电路C、晶体管、电子管、集成电路、芯片D、电子管、晶体管、集成电路、芯片

对于集成电路型及微机型保护的测试应注意事项有()。A、不允许在现场进行修理插件的工作。B、在现场试验过程中不允许拔出插板测试,只允许用厂家提供的测试孔或测试板进行测试工作。C、插拔插件必须有专门措施,防止因人身静电损坏集成电路片;厂家应随装置提供相应的物件。D、应做好插件的标识记录工作,防止误插插件。

()可以离线快速测试集成电路的好坏,是数控系统进行片级维修的必要仪器。A、IC在线测试仪B、逻辑分析仪C、IC测试仪D、短路追踪仪

集成电路的主要制造流程是()A、硅抛光片——晶圆——芯片——集成电路——成品测试B、硅抛光片——芯片——晶圆——成品测试——集成电路C、晶圆——硅抛光片——芯片——成品测试——集成电路D、硅抛光片——芯片——晶圆——集成电路——成品测试

数字集成电路的逻辑功能测试可分为()和动态测试两个步骤。

在测量集成电路的各引脚电压时,应注意防止极间短路,因为瞬间的短路可能会造成集成电路的损坏。

双列直插式(DIP)集成电路引脚识别:集成电路引脚朝下,以()或()等标记为参考标记,其引脚编号按()排列。

双列直插式(DIP)集成电路引脚识别:集成电路引脚朝下,以()等标记为参考标记,其引脚编号按()排列。

集成电路的在线测试一般包括电阻测量法、()、信号测量法。

IC在线测试仪一般均提供()、V-I曲线分析、大规模集成电路分析测试三种主要功能。

汽车维修用的万用表其内电阻高的主要目的是()。A、为了提高测量精度;B、为了增强测试功能;C、为了防止测试时产生瞬时高电压;D、为了节能

集成电路型及微机型保护在现场试验过程中允许拔出插板测试,但只允许用厂家提供的测试孔或测试板进行测试工作。

判断题集成电路的电路符号通常只能表示集成电路引脚的数量和位置。()A对B错

单选题集成电路常用的检测方法有三种,其中,在集成电路未焊入电路时,通过测量其各引脚之间的直流电阻值与已知正常同型号集成电路各引脚之间的直流电阻值进行对比,以确定其是否正常的是()。A在线测量法B代换法C非在线测量法D拆卸法

单选题在集成电路加工制造中,通常所指前道工艺为()A集成电路制造(晶圆加工)B集成电路封装C集成电路测试D集成电路设计

单选题集成电路的主要制造流程是()A硅抛光片——晶圆——芯片——集成电路——成品测试B硅抛光片——芯片——晶圆——成品测试——集成电路C晶圆——硅抛光片——芯片——成品测试——集成电路D硅抛光片——芯片——晶圆——集成电路——成品测试

填空题IC在线测试仪一般均提供()、V-I曲线分析、大规模集成电路分析测试三种主要功能。

单选题在铅蓄电池的内阻测量时()A可以用万用表测试B不可以用万用表测试C充足电后可以用万用表测试D放完电后可以用万用表测试

单选题计算机采用的逻辑元件的发展顺序是()A晶体管、电子管、集成电路、大规模集成电路B电子管、晶体管、集成电路、大规模集成电路C晶体管、电子管、集成电路、芯片D电子管、晶体管、集成电路、芯片

问答题集成电路测试的分类?

填空题集成电路的在线测试一般包括电阻测量法、()、信号测量法。

填空题双列直插式(DIP)集成电路引脚识别:集成电路引脚朝下,以()或()等标记为参考标记,其引脚编号按()排列。

填空题双列直插式(DIP)集成电路引脚识别:集成电路引脚朝下,以()等标记为参考标记,其引脚编号按()排列。