例举并描述IC生产过程中的5种不同电学测试。

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测试过程中,___________________描述用于描述测试的整体方案,__________描述依据测试案例找出的问题。

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测试过程中,()用于描述测试的整体方案,()描述依据测试案例找出的问题。

例举并描述光刻中使用的两种曝光光源。

例举在线参数测试的4个主要子系统。

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问答题例举在线参数测试的4个主要子系统。

填空题测试过程中,()描述用于描述测试的整体方案,()描述依据测试案例找出的问题。

问答题试例举三种不同形制的汉代铜镜,并对其特征加以简要说明。

问答题例举并描述硅片拣选测试中的三种典型电学测试(第十九章)

填空题集成电路产业包括:IC设计、()、IC封装、IC测试。

问答题例举并描述光刻中使用的两种曝光光源。

问答题例举出芯片厂中6个不同的生产区域并对每一个生产区域做简单描述。

问答题例举并描述金属用于硅片制造的7种要求。

填空题测试过程中,()用于描述测试的整体方案,()描述依据测试案例找出的问题。

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