单选题靠近探头的长条形缺陷并不一定都能探测到,因为()A声束扩散B材质衰减C仪器阻塞效应D折射

单选题
靠近探头的长条形缺陷并不一定都能探测到,因为()
A

声束扩散

B

材质衰减

C

仪器阻塞效应

D

折射


参考解析

解析: 暂无解析

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可通过什么方式减少声束在远场的扩散()。A、使用凸面探头B、使用大直径的探头C、在近场减少声束强度D、使用低频探E、加大增益

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靠近探头的长条形缺陷并不一定都能测到,因为( )。A.声束扩散B.材质衰减C.仪器阻塞效应D.折射

超声在介质中传播过程中,声能发生衰减的原因主要有A、反射、吸收、散射、折射、声束扩散B、吸收、散射、折射、声束扩散C、反射、散射、折射、声束扩散D、反射、散射、折射E、吸收、散射、声束扩散

靠近探头的缺陷不一定都能探测到,因为有()A.声束扩散B.材质衰减C.仪器阻塞效应D.折射

由于声束扩散原因引起的声衰减,可以克服的方法是A.降低帧频B.变换探头频率C.降低探头频率D.提高帧频E.声束聚焦

测定材质衰减时所得结果除材料本身衰减外,还包括:()A、声束扩散损失B、耦合损耗C、工件几何形状影响D、以上都是

单晶片直探头接触法探伤中,与探测面十分接近的缺陷往往不能有效地检出,这是因为()A、近场干扰B、材质衰减C、盲区D、折射

靠近探头的缺陷不一定都能探测到,因为有()A、声束扩散B、材质衰减C、仪器阻塞效应D、折射

靠近探头的缺陷不一定都能探测到,因为超声波检测仪器存在有仪器()效应

衰减的原因主要有()。A、吸收B、散射C、声束扩散D、热效应E、生物学效应

靠近探头的长条形缺陷并不一定都能探测到,因为()。A、声束扩散B、材质衰减C、仪器阻塞效应D、折射

探头晶片面积相同,高频率探头的声束扩散角要比低频率探头的声束扩散角大。

靠近探头的长条形缺陷并不一定都能测到,因为()。A、声束扩散B、材质衰减C、仪器阻塞效应D、折射

70°探头探测钢轨伤损时,回波有位移是因为()。A、声程不同B、声束扩散C、探头位移D、频率变化

靠近滩头的长条形缺陷并不一定都能检测到,是应为()。

单选题测定材质衰减时所得结果除材料本身衰减外,还包括:()A声束扩散损失B耦合损耗C工件几何形状影响D以上都是

单选题由于声束扩散原因引起的声衰减,可以使用(  )方法克服。A降低帧频B增加帧频C增加探头频率D声束聚焦E降低探头频率

单选题靠近探头的长条形缺陷并不一定都能测到,因为()。A声束扩散B材质衰减C仪器阻塞效应D折射

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单选题通常超声声束的强度在聚焦区较大,因为(  )。A衰减减少B声束直径变小C衍射效应D声束直径变大E增益可调整

填空题靠近滩头的长条形缺陷并不一定都能检测到,是应为()。

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