单选题同样厚度的两个金属试件,一个可测得五六次底面回波,另一个只测得二次底面回波,则后者的()A晶粒粗大B声阻抗大C晶粒细小均匀

单选题
同样厚度的两个金属试件,一个可测得五六次底面回波,另一个只测得二次底面回波,则后者的()
A

晶粒粗大

B

声阻抗大

C

晶粒细小均匀


参考解析

解析: 暂无解析

相关考题:

在水浸法检验中,探头与试件间的水距( )。A、应尽可能的小B、使二次界面波在底面回波之前C、使二次界面波在底面回波之后D、应尽可能的大

直探头探测厚度250mm和500mm的两个饼形试件,若后者探测面粗糙且与前者耦合差为5DB,两者的材质双声程衰减均为0.004DB/mm,当前者的底面回波调至示波屏满幅的80%时,后者的底面回波应为示波屏满幅的()A.5%B.10%C.20%D.40%

斜入射横波法探测平板形试块时,探测回波中()A、没有底面回波B、有底面回波C、有大型缺陷回波,底面回波消失D、缺陷回波和底面回波同时存在

钢板厚为30mm,用水浸法探伤,当水层厚度为15mm时,则第三次底面回波显示于()A、二次界面回波之前B、二次界面回波之后C、一次界面回波之前D、不一定

直探头探测厚100mm和400mm的两平底面锻件,若后者探测面粗糙,与前者耦合差为5db,材质衰减均为0.01Db/mm(双程),今将前者底面回波调至满幅(100%)高,则后者的底面回波应是满幅度的:()A、40%B、20%C、10%D、5%

在水浸检验中,探头与试件水距()A、应尽可能减小B、使二次界面波在底面回波之前C、使二次界面波在底面回波之后D、应尽可能的大

直探头探测厚度250mm和500mm的两个饼形试件,若后者探测面粗糙且与前者耦合差为5dB,两者的材质双声程衰减均为0.004dB/mm,当前者的底面回波调至示波屏满幅的80%时,后者的底面回波应为示波屏满幅的()A、5%B、10%C、20%D、40%

纵波垂直探伤时,当试件的二次底面回波显示在时基限标度5上时,则一次底面回波和三次底面回波应显示于时基限标度()上。A、2.5和7.5B、3和7C、2和8

同样厚度的两个金属试件,一个可测得五、六次底面回波,另一个只测得二次底面回波,则后者的声阻抗大。

斜入射横波法探测平板形试件时,探测图形中()。A、没有底面回波B、有底面回波C、有大型缺陷回波时底面回波消失D、有大型缺陷回波时有底面回波

用底面多次回波法探测板材,第四次底面回波显示于4.5格处,每格代表10mm,则该板厚度()。

对水浸法探伤,水层厚度的调整,一般应使界面二次回波落在试件一次底面回波之()。A、前B、后C、中D、始波后

直径40mm、长100mm的钢试件,用尺寸相当的直探头在端面探测时,则迟到回波至底面回波的间距是()。

厚度为600mm的铝试件,用直探头测得一回波的传播时间为165μs,若纵波在铝中声速为6300m/s则此回波是()A、底面回波B、底面二次回波C、缺陷回波D、迟到回波

底面多次回波法探伤主要用于()A、厚度较小的板材B、形状复杂的试件C、大厚度试件

单选题斜入射横波法探测平板形试件时,探测图形中()。A没有底面回波B有底面回波C有大型缺陷回波时底面回波消失D有大型缺陷回波时有底面回波

单选题在水浸检验中,探头与试件水距()A应尽可能减小B使二次界面波在底面回波之前C使二次界面波在底面回波之后D应尽可能的大

单选题底面多次回波法探伤主要用于()A厚度较小的板材B形状复杂的试件C大厚度试件

单选题钢板厚为30mm,用水浸法探伤,当水层厚度为15mm时,则第三次底面回波显示于()A二次界面回波之前B二次界面回波之后C一次界面回波之前D不一定

单选题直探头探测厚度250mm和500mm的两个饼形试件,若后者探测面粗糙且与前者耦合差为5dB,两者的材质双声程衰减均为0.004dB/mm,当前者的底面回波调至示波屏满幅的80%时,后者的底面回波应为示波屏满幅的()A5%B10%C20%D40%

单选题对水浸法探伤,水层厚度的调整,一般应使界面二次回波落在试件一次底面回波之()。A前B后C中D始波后

填空题用底面多次回波法探测板材,第四次底面回波显示于4.5格处,每格代表10mm,则该板厚度()。

判断题同样厚度的两个金属试件,一个可测得五、六次底面回波,另一个只测得二次底面回波,则后者的声阻抗大。A对B错

单选题厚度为600mm的铝试件,用直探头测得一回波的传播时间为165μs,若纵波在铝中声速为6300m/s则此回波是:()A底面回波B底面二次回波C缺陷回波D迟到回波

单选题纵波垂直探伤时,当试件的二次底面回波显示在时基限标度5上时,则一次底面回波和三次底面回波应显示于时基限标度()上。A2.5和7.5B3和7C2和8

单选题在水浸法检验中,探头与试件间的水距()。A应尽可能的小B使二次界面波在底面回波之前C使二次界面波在底面回波之后D应尽可能的大

单选题斜入射横波法探测平板形试块时,探测回波中()A没有底面回波B有底面回波C有大型缺陷回波,底面回波消失D缺陷回波和底面回波同时存在