单选题直探头探测厚度250mm和500mm的两个饼形试件,若后者探测面粗糙且与前者耦合差为5dB,两者的材质双声程衰减均为0.004dB/mm,当前者的底面回波调至示波屏满幅的80%时,后者的底面回波应为示波屏满幅的()A5%B10%C20%D40%

单选题
直探头探测厚度250mm和500mm的两个饼形试件,若后者探测面粗糙且与前者耦合差为5dB,两者的材质双声程衰减均为0.004dB/mm,当前者的底面回波调至示波屏满幅的80%时,后者的底面回波应为示波屏满幅的()
A

5%

B

10%

C

20%

D

40%


参考解析

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直探头探测厚250mm及500mm两锻件,若后者与前者耦合差4dB,材质衰减均为0、004dB/mm,前者底面回波为满幅度的80%时,则后者底面回波应( )。A、5%B、10%C、20%D、40%

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直探头探测厚度250mm和500mm的两个饼形试件,若后者探测面粗糙且与前者耦合差为5DB,两者的材质双声程衰减均为0.004DB/mm,当前者的底面回波调至示波屏满幅的80%时,后者的底面回波应为示波屏满幅的()A.5%B.10%C.20%D.40%

直探头探测厚250mm及500mm的两个饼形锻件,若后者探测面粗糙,与前者耦合差5DB,材质衰减均为0.004DB/mm,前者的底面回波调至示波屏满幅度的80%,则后者的底面回波应为满幅度的()A.5%B.10%C.20%D.40%

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直探头探测厚度250mm和500mm的两个饼形试件,若后者探测面粗糙且与前者耦合差为5dB,两者的材质双声程衰减均为0.004dB/mm,当前者的底面回波调至示波屏满幅的80%时,后者的底面回波应为示波屏满幅的()A、5%B、10%C、20%D、40%

对饼形锻件,采用纵波直探头作径向探测是最佳检测方法

对饼形锻件,采用直探头作径向探测是最佳的探伤方法。()

直探头探测厚250mm及500mm两锻件,若后者与前者耦合差4dB,材质衰减均为0.004dB/mm,前者底面回波为满幅度80%时,则后者底面回波应为其()。A、5%B、10%C、20%D、40%

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