直探头探测厚100mm和400mm的两平底面锻件,若后者探测面粗糙,与前者耦合差为5db,材质衰减均为0.01Db/mm(双程),今将前者底面回波调至满幅(100%)高,则后者的底面回波应是满幅度的:()A、40%B、20%C、10%D、5%

直探头探测厚100mm和400mm的两平底面锻件,若后者探测面粗糙,与前者耦合差为5db,材质衰减均为0.01Db/mm(双程),今将前者底面回波调至满幅(100%)高,则后者的底面回波应是满幅度的:()

  • A、40%
  • B、20%
  • C、10%
  • D、5%

相关考题:

直探头探测厚250mm及500mm两锻件,若后者与前者耦合差4dB,材质衰减均为0、004dB/mm,前者底面回波为满幅度的80%时,则后者底面回波应( )。A、5%B、10%C、20%D、40%

直探头探测厚度250mm和500mm的两个饼形试件,若后者探测面粗糙且与前者耦合差为5DB,两者的材质双声程衰减均为0.004DB/mm,当前者的底面回波调至示波屏满幅的80%时,后者的底面回波应为示波屏满幅的()A.5%B.10%C.20%D.40%

直探头探测厚250mm及500mm的两个饼形锻件,若后者探测面粗糙,与前者耦合差5DB,材质衰减均为0.004DB/mm,前者的底面回波调至示波屏满幅度的80%,则后者的底面回波应为满幅度的()A.5%B.10%C.20%D.40%

斜入射横波法探测平板形试块时,探测回波中()A、没有底面回波B、有底面回波C、有大型缺陷回波,底面回波消失D、缺陷回波和底面回波同时存在

一般来说,同一个组合双晶直探头的近表面分辨率和底面分辨率()A、前者优于后者B、后者优于前者C、前者与后者相同D、两者没有规律

探测距离均为100mm的底面,用同样规格直探头以相同灵敏度探测时,下列哪种底面回波最高、()A、与探测面平行的大平底面B、R200的凹圆柱底面C、R200的凹球底面D、R200的凸圆柱底面

直探头探测厚度250mm和500mm的两个饼形试件,若后者探测面粗糙且与前者耦合差为5dB,两者的材质双声程衰减均为0.004dB/mm,当前者的底面回波调至示波屏满幅的80%时,后者的底面回波应为示波屏满幅的()A、5%B、10%C、20%D、40%

锻钢件大平底面与探测面不平行时,会产生:()A、无底面回波或底面回波降低B、难以发现平行探测面的缺陷C、声波穿透能力下降D、缺陷回波受底面回波影响

在一定灵敏度下探测材料时,材质衰减越大则底面回波()

直探头探测厚250mm及500mm两锻件,若后者与前者耦合差4dB,材质衰减均为0.004dB/mm,前者底面回波为满幅度80%时,则后者底面回波应为其()。A、5%B、10%C、20%D、40%

斜入射横波法探测平板形试件时,探测图形中()。A、没有底面回波B、有底面回波C、有大型缺陷回波时底面回波消失D、有大型缺陷回波时有底面回波

探测面与工件底面不平行时将导致底面回波消失。

用水层法探测厚度为100mm的钢试件,当水层厚度20mm时底面回波显示于()次界面波之后。

直径40mm、长100mm的钢试件,用尺寸相当的直探头在端面探测时,则迟到回波至底面回波的间距是()。

用多次回波法探测复合材料,假如超声波自材质衰减小的材料透入,当粘合面粘结良好时,底面回波次数很。

直探头探测厚250mm及500mm两饼形锻外,•若后者探测面毛糙,•与前者耦合差4dB,材质衰减均为0.004dB/mm前者的底面回波调至示波屏满幅度的100%,则后者的底面回波应为满幅度的()。A、5%B、10%C、20%D、40%

单选题斜入射横波法探测平板形试件时,探测图形中()。A没有底面回波B有底面回波C有大型缺陷回波时底面回波消失D有大型缺陷回波时有底面回波

单选题直探头探测厚度250mm和500mm的两个饼形试件,若后者探测面粗糙且与前者耦合差为5dB,两者的材质双声程衰减均为0.004dB/mm,当前者的底面回波调至示波屏满幅的80%时,后者的底面回波应为示波屏满幅的()A5%B10%C20%D40%

单选题直探头探测厚250mm及500mm两锻件,若后者与前者耦合差4dB,材质衰减均为0.004dB/mm,前者底面回波为满幅度80%时,则后者底面回波应为其()。A5%B10%C20%D40%

单选题锻钢件大平底面与探测面不平行时,会产生:()A无底面回波或底面回波降低B难以发现平行探测面的缺陷C声波穿透能力下降D缺陷回波受底面回波影响

单选题探测距离均为100mm的底面,用同样规格直探头以相同灵敏度探测时,下列哪种底面回波最高、()A与探测面平行的大平底面BR200的凹圆柱底面CR200的凹球底面DR200的凸圆柱底面

判断题探测面与工件底面不平行时将导致底面回波消失。A对B错

单选题厚度均为400mm,但材质衰减不同的两个锻件,采用各自底面校正400/Φ2灵敏度进行分别探测,现两个锻件中均发现缺陷,且回波高度和缺陷声程均相同,则:()A两个缺陷当量相同B材质衰减大的锻件中缺陷当量小C材质衰减小的锻件中缺陷当量小D以上都不对

单选题直探头探测厚250mm及500mm两饼形锻外,若后者探测面毛糙,与前者耦合差4dB,材质衰减均为0.004dB/mm前者的底面回波调至示波屏满幅度的100%,则后者的底面回波应为满幅度的()。A5%B10%C20%D40%

单选题直探头探测厚100mm和400mm的两平底面锻件,若后者探测面粗糙,与前者耦合差为5db,材质衰减均为0.01Db/mm(双程),今将前者底面回波调至满幅(100%)高,则后者的底面回波应是满幅度的:()A40%B20%C10%D5%

填空题直径40mm、长100mm的钢试件,用尺寸相当的直探头在端面探测时,则迟到回波至底面回波的间距是()。

单选题斜入射横波法探测平板形试块时,探测回波中()A没有底面回波B有底面回波C有大型缺陷回波,底面回波消失D缺陷回波和底面回波同时存在