单选题下面有关像质计的叙述中,正确的是()A线条型主要功用为显示照像灵敏度,而孔洞型功用为底片对比B孔洞型主要功用为显示照像灵敏度,而线条型功用为底片对比C线条型及孔洞型主要功用均为显示照像灵敏度D线条型及孔洞型主要功用均为表示底片对比

单选题
下面有关像质计的叙述中,正确的是()
A

线条型主要功用为显示照像灵敏度,而孔洞型功用为底片对比

B

孔洞型主要功用为显示照像灵敏度,而线条型功用为底片对比

C

线条型及孔洞型主要功用均为显示照像灵敏度

D

线条型及孔洞型主要功用均为表示底片对比


参考解析

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阶梯孔型像质计在显示射线照相技术变化对影像质量的影响方面和丝型像质计相比()A、阶梯孔型像质计更灵敏些B、丝型像质计更灵敏些C、两者灵敏性相同D、以上都不是

下述有关像质计特质的叙述中,不正确的是()A、像质计材质和试件有相当的射线吸收系数B、像质计形状与尺寸都是已知的C、像质计和试件一起成像,而用来鉴定试件品质的重要工具D、像质计并不直接用来和缺陷尺寸相比较

以下有关放置像质计的说法正确的是()A、原则上每一张射线底片都应放置像质计B、周向曝光技术中,在至少每隔120º的位置上放置一个像质计C、像质计一般放在射线底片的两端,像质计最细的金属丝应靠近端头处D、以上都对

最广泛使用的像质计型式主要是()A、丝型像质计B、阶梯孔型像质计C、平板孔型像质计D、以上都是

有关像质计使用的说法正确的是()A、摆放像质计时,摆放位置一般是在射线透照区内灵敏度较低部位B、采用单壁透照法时,像质计如不能放在近射源侧的表面则要做对比试验C、当像质计摆放在胶片侧时应加放“F”标记D、以上都对

工业射线照相用的像质计大致有()A、金属丝型像质计B、孔型像质计C、槽型像质计D、以上都是

下面有关像质计的叙述中,正确的是()A、线条型主要功用为显示照像灵敏度,而孔洞型功用为底片对比B、孔洞型主要功用为显示照像灵敏度,而线条型功用为底片对比C、线条型及孔洞型主要功用均为显示照像灵敏度D、线条型及孔洞型主要功用均为表示底片对比

下面关于像质计的叙述中,正确的是()A、各种像质计设计了自己特定的结构和细节形式,规定了自己的测定射线照相灵敏度的方法,它们之间不能简单换算B、各种像质计有自己特定的结构和细节形式,但它们测定射线照相灵敏度的方法是相同或相似的C、用不同像质计得到的射线照相灵敏度值如果相同,就意味着射线照片的影像质量相同D、以上都不对

孔洞型像质计编号为20号,这表示()A、最小孔洞直径0.20英寸B、最小孔洞直径2.0mmC、像质计厚度0.20英寸D、像质计厚度0.020英寸

像质计是用来表征对于某些人工缺陷(如圆孔、沟槽、金属丝)的发现难易程度,它又称作()A、像质计B、透度计C、以上都对

以下有关对比试验的说法正确的是()A、像质计应放置在近射线源一侧的工件表面B、如因工件形状的关系像质计只能放在近胶片一侧工件表面时,可通过对比试验进行修正C、像质计应横跨焊缝放置D、以上都对

实验表明,胶片颗粒性对平板孔型像质计中小孔影象显示的影响,要比对线型像质计中金属丝影像的显示影响小得多。

对不同型式的像质计来说,只要采用相同的透照技术,像质计灵敏度的数值一般都相同。

在下列叙述中,与JB/T4730.2-2005标准规定符合的是:()A、双壁单影透照像质计放置在胶片侧B、当像质计放置在胶片侧时,应在像质计上适当位置放置铅字“F”作为标记,“F”标记影象应与像质计的标记同时出现在底片上,且应在检测报告中注明C、单壁透照时允许像质计放置在胶片侧,但必须进行对比试验D、当一张胶片上同时透照多条焊接接头时,至少在第一条、中间一条和最后一条焊接接头处各放一个置像质计

常用的像质计是()。A、 槽式像质计B、 线形像质计C、 孔形像质计D、 以上都是

常用的像质计是板式像质计。

单选题孔洞型像质计编号为20号,这表示()A最小孔洞直径0.20英寸B最小孔洞直径2.0mmC像质计厚度0.20英寸D像质计厚度0.020英寸

单选题工业射线照相用的像质计大致有()A金属丝型像质计B孔型像质计C槽型像质计D以上都是

单选题最广泛使用的像质计型式主要是()A丝型像质计B阶梯孔型像质计C平板孔型像质计D以上都是

单选题像质计是用来表征对于某些人工缺陷(如圆孔、沟槽、金属丝)的发现难易程度,它又称作()A像质计B透度计C以上都对

单选题常用的像质计是()。A槽式像质计B线形像质计C孔形像质计D以上都是

单选题下面关于像质计的叙述中,正确的是()A各种像质计设计了自己特定的结构和细节形式,规定了自己的测定射线照相灵敏度的方法,它们之间不能简单换算B各种像质计有自己特定的结构和细节形式,但它们测定射线照相灵敏度的方法是相同或相似的C用不同像质计得到的射线照相灵敏度值如果相同,就意味着射线照片的影像质量相同D以上都不对

单选题以下有关对比试验的说法正确的是()A像质计应放置在近射线源一侧的工件表面B如因工件形状的关系像质计只能放在近胶片一侧工件表面时,可通过对比试验进行修正C像质计应横跨焊缝放置D以上都对

单选题有关像质计使用的说法正确的是()A摆放像质计时,摆放位置一般是在射线透照区内灵敏度较低部位B采用单壁透照法时,像质计如不能放在近射源侧的表面则要做对比试验C当像质计摆放在胶片侧时应加放“F”标记D以上都对

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单选题下面有关平面镜成像的几种叙述中,不正确的是(  ).A像位于镜后,是正立的虚像B像的大小等于物的大小C如果物体移近镜面,则像也移近镜面D像的颜色与物体的颜色不同