单选题工业射线照相用的像质计大致有()A金属丝型像质计B孔型像质计C槽型像质计D以上都是

单选题
工业射线照相用的像质计大致有()
A

金属丝型像质计

B

孔型像质计

C

槽型像质计

D

以上都是


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按照JB/T4730.2-2005《承压设备无损检测 第2部分:射线检测》的规定,对于一次曝光完成多张胶片照相的情况,每张底片上都应有像质计影像。()

()是评价射线照相质量最重要指标 A、像质等级B、灵敏度C、射线能量D、曝光规范

不同像质计给出的射线照相灵敏度之间()A、有直接换算公式B、不能简单互换C、可以简单互换D、以上都不是

阶梯孔型像质计在显示射线照相技术变化对影像质量的影响方面和丝型像质计相比()A、阶梯孔型像质计更灵敏些B、丝型像质计更灵敏些C、两者灵敏性相同D、以上都不是

使用孔洞型像质计作焊缝射线检测时应加垫片,其作用为()A、改善像质计影像B、降低电子发射C、模拟焊缝的补强高度D、增强影像

下述有关像质计特质的叙述中,不正确的是()A、像质计材质和试件有相当的射线吸收系数B、像质计形状与尺寸都是已知的C、像质计和试件一起成像,而用来鉴定试件品质的重要工具D、像质计并不直接用来和缺陷尺寸相比较

射线照相固有不清晰度可采用铂-钨双丝像质剂测定。

以下有关放置像质计的说法正确的是()A、原则上每一张射线底片都应放置像质计B、周向曝光技术中,在至少每隔120º的位置上放置一个像质计C、像质计一般放在射线底片的两端,像质计最细的金属丝应靠近端头处D、以上都对

JIS规定,不锈钢材接受射线照相所需的线型像质计编号开头字母为()A、FB、SC、ZD、G

下列关于增感屏使用的叙述中,哪种是正确的?()A、用荧光增感屏进行X射线照相时,曝光时间可以显著缩短,但底片的像质较差B、荧光增感屏的增感作用不如铅箔增感屏C、用铅箔增感屏时,若X射线管的管电压太高,会产生磷光现象D、用荧光增感屏进行X射线照相时,曝光时间虽然较长,但底片的像质较好

工业射线照相用的像质计大致有()A、金属丝型像质计B、孔型像质计C、槽型像质计D、以上都是

射线照相灵敏度的绝对灵敏度就是()A、射线照片上可发现的最小缺陷尺寸B、射线照片上可识别的像质计最小细节尺寸C、对所有像质计统一规定的像质指数D、以上都不是

在对焊缝作射线照相时,线型像质计应放在有效照相范围的下述哪个位置?()A、透照场中心,焊缝上(与射线源同侧)B、透照场一端,焊缝上(与射线源同侧)C、透照场中心,焊缝上(与胶片同侧)D、透照场一端,焊缝上(与射线源异侧)

下面关于像质计的叙述中,正确的是()A、各种像质计设计了自己特定的结构和细节形式,规定了自己的测定射线照相灵敏度的方法,它们之间不能简单换算B、各种像质计有自己特定的结构和细节形式,但它们测定射线照相灵敏度的方法是相同或相似的C、用不同像质计得到的射线照相灵敏度值如果相同,就意味着射线照片的影像质量相同D、以上都不对

对复合材料制件进行X射线照相检验时,可采用GB55618规定的像质计

像质计的材质应为()A、不锈钢B、钢C、铝D、与被照物有相同射线吸收系数的材料

像质计是用来鉴定照相技术和胶片处理质量的器件。

射线照相法是利用X、γ射线穿透工件,以()作为记录信息的无损检测方法。A、像质计B、胶片C、评定尺D、增感屏

单选题不同像质计给出的射线照相灵敏度之间()A有直接换算公式B不能简单互换C可以简单互换D以上都不是

判断题对复合材料制件进行X射线照相检验时,可采用GB55618规定的像质计A对B错

单选题在对焊缝作射线照相时,线型像质计应放在有效照相范围的下述哪个位置?()A透照场中心,焊缝上(与射线源同侧)B透照场一端,焊缝上(与射线源同侧)C透照场中心,焊缝上(与胶片同侧)D透照场一端,焊缝上(与射线源异侧)

单选题射线照相灵敏度的绝对灵敏度就是()A射线照片上可发现的最小缺陷尺寸B射线照片上可识别的像质计最小细节尺寸C对所有像质计统一规定的像质指数D以上都不是

问答题在射线检测诊断中像质计的作用是什么?

单选题使用孔洞型像质计对厚度50mm钢件射线照相,要得到2-1T的品质,则该透度计厚度为()A0.5mmB1.0mmC5mmD10mm

单选题下面关于像质计的叙述中,正确的是()A各种像质计设计了自己特定的结构和细节形式,规定了自己的测定射线照相灵敏度的方法,它们之间不能简单换算B各种像质计有自己特定的结构和细节形式,但它们测定射线照相灵敏度的方法是相同或相似的C用不同像质计得到的射线照相灵敏度值如果相同,就意味着射线照片的影像质量相同D以上都不对

单选题阶梯孔型像质计在显示射线照相技术变化对影像质量的影响方面和丝型像质计相比()A阶梯孔型像质计更灵敏些B丝型像质计更灵敏些C两者灵敏性相同D以上都不是

单选题下述有关像质计特质的叙述中,不正确的是()A像质计材质和试件有相当的射线吸收系数B像质计形状与尺寸都是已知的C像质计和试件一起成像,而用来鉴定试件品质的重要工具D像质计并不直接用来和缺陷尺寸相比较