单选题下述有关像质计特质的叙述中，不正确的是（）A像质计材质和试件有相当的射线吸收系数B像质计形状与尺寸都是已知的C像质计和试件一起成像，而用来鉴定试件品质的重要工具D像质计并不直接用来和缺陷尺寸相比较
单选题
下述有关像质计特质的叙述中，不正确的是（）
A
像质计材质和试件有相当的射线吸收系数
B
像质计形状与尺寸都是已知的
C
像质计和试件一起成像，而用来鉴定试件品质的重要工具
D
像质计并不直接用来和缺陷尺寸相比较
参考解析
解析：
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相关考题：
按照JB/T 4730.2-2005《承压设备无损检测 第2部分：射线检测》规定，单壁透照中，如果像质计无法放在源侧而放在胶片侧时，应在像质计适当位置放置铅字“F”作为标记，“F”标记的影像应与像质计的标记同时出现在底片上，且应在检测报告上注明。()
下述有关像质计特质的叙述中，不正确的是（）A、像质计材质和试件有相当的射线吸收系数B、像质计形状与尺寸都是已知的C、像质计和试件一起成像，而用来鉴定试件品质的重要工具D、像质计并不直接用来和缺陷尺寸相比较
以下有关放置像质计的说法正确的是（）A、原则上每一张射线底片都应放置像质计B、周向曝光技术中，在至少每隔120º的位置上放置一个像质计C、像质计一般放在射线底片的两端，像质计最细的金属丝应靠近端头处D、以上都对
有关像质计使用的说法正确的是（）A、摆放像质计时，摆放位置一般是在射线透照区内灵敏度较低部位B、采用单壁透照法时，像质计如不能放在近射源侧的表面则要做对比试验C、当像质计摆放在胶片侧时应加放“F”标记D、以上都对
下面关于像质计的叙述中，正确的是（）A、各种像质计设计了自己特定的结构和细节形式，规定了自己的测定射线照相灵敏度的方法，它们之间不能简单换算B、各种像质计有自己特定的结构和细节形式，但它们测定射线照相灵敏度的方法是相同或相似的C、用不同像质计得到的射线照相灵敏度值如果相同，就意味着射线照片的影像质量相同D、以上都不对
以下有关对比试验的说法正确的是（）A、像质计应放置在近射线源一侧的工件表面B、如因工件形状的关系像质计只能放在近胶片一侧工件表面时，可通过对比试验进行修正C、像质计应横跨焊缝放置D、以上都对
在下列叙述中，与JB/T4730.2-2005标准规定符合的是：（）A、双壁单影透照像质计放置在胶片侧B、当像质计放置在胶片侧时，应在像质计上适当位置放置铅字“F”作为标记，“F”标记影象应与像质计的标记同时出现在底片上，且应在检测报告中注明C、单壁透照时允许像质计放置在胶片侧，但必须进行对比试验D、当一张胶片上同时透照多条焊接接头时，至少在第一条、中间一条和最后一条焊接接头处各放一个置像质计
单选题下面关于像质计的叙述中，正确的是（）A各种像质计设计了自己特定的结构和细节形式，规定了自己的测定射线照相灵敏度的方法，它们之间不能简单换算B各种像质计有自己特定的结构和细节形式，但它们测定射线照相灵敏度的方法是相同或相似的C用不同像质计得到的射线照相灵敏度值如果相同，就意味着射线照片的影像质量相同D以上都不对
单选题有关像质计使用的说法正确的是（）A摆放像质计时，摆放位置一般是在射线透照区内灵敏度较低部位B采用单壁透照法时，像质计如不能放在近射源侧的表面则要做对比试验C当像质计摆放在胶片侧时应加放“F”标记D以上都对
单选题阶梯孔型像质计在显示射线照相技术变化对影像质量的影响方面和丝型像质计相比（）A阶梯孔型像质计更灵敏些B丝型像质计更灵敏些C两者灵敏性相同D以上都不是