实验表明，胶片颗粒性对平板孔型像质计中小孔影象显示的影响，要比对线型像质计中金属丝影像的显示影响小得多。
实验表明，胶片颗粒性对平板孔型像质计中小孔影象显示的影响，要比对线型像质计中金属丝影像的显示影响小得多。
相关考题：
按照JB/T 4730.2-2005《承压设备无损检测 第2部分：射线检测》规定，单壁透照中，如果像质计无法放在源侧而放在胶片侧时，应在像质计适当位置放置铅字“F”作为标记，“F”标记的影像应与像质计的标记同时出现在底片上，且应在检测报告上注明。()
下述有关像质计特质的叙述中，不正确的是（）A、像质计材质和试件有相当的射线吸收系数B、像质计形状与尺寸都是已知的C、像质计和试件一起成像，而用来鉴定试件品质的重要工具D、像质计并不直接用来和缺陷尺寸相比较
以下有关放置像质计的说法正确的是（）A、原则上每一张射线底片都应放置像质计B、周向曝光技术中，在至少每隔120º的位置上放置一个像质计C、像质计一般放在射线底片的两端，像质计最细的金属丝应靠近端头处D、以上都对
在下列叙述中，与JB/T4730.2-2005标准规定符合的是：（）A、双壁单影透照像质计放置在胶片侧B、当像质计放置在胶片侧时，应在像质计上适当位置放置铅字“F”作为标记，“F”标记影象应与像质计的标记同时出现在底片上，且应在检测报告中注明C、单壁透照时允许像质计放置在胶片侧，但必须进行对比试验D、当一张胶片上同时透照多条焊接接头时，至少在第一条、中间一条和最后一条焊接接头处各放一个置像质计
单选题下述有关像质计特质的叙述中，不正确的是（）A像质计材质和试件有相当的射线吸收系数B像质计形状与尺寸都是已知的C像质计和试件一起成像，而用来鉴定试件品质的重要工具D像质计并不直接用来和缺陷尺寸相比较