以下有关放置像质计的说法正确的是()A、原则上每一张射线底片都应放置像质计B、周向曝光技术中,在至少每隔120º的位置上放置一个像质计C、像质计一般放在射线底片的两端,像质计最细的金属丝应靠近端头处D、以上都对

以下有关放置像质计的说法正确的是()

  • A、原则上每一张射线底片都应放置像质计
  • B、周向曝光技术中,在至少每隔120º的位置上放置一个像质计
  • C、像质计一般放在射线底片的两端,像质计最细的金属丝应靠近端头处
  • D、以上都对

相关考题:

按照JB/T 4730.2-2005《承压设备无损检测 第2部分:射线检测》规定,单壁透照中,如果像质计无法放在源侧而放在胶片侧时,应在像质计适当位置放置铅字“F”作为标记,“F”标记的影像应与像质计的标记同时出现在底片上,且应在检测报告上注明。()

阶梯孔型像质计在显示射线照相技术变化对影像质量的影响方面和丝型像质计相比()A、阶梯孔型像质计更灵敏些B、丝型像质计更灵敏些C、两者灵敏性相同D、以上都不是

下述有关像质计特质的叙述中,不正确的是()A、像质计材质和试件有相当的射线吸收系数B、像质计形状与尺寸都是已知的C、像质计和试件一起成像,而用来鉴定试件品质的重要工具D、像质计并不直接用来和缺陷尺寸相比较

以下属于射线拍片时使用的相关器材是()A、增感屏B、光照计C、像质计D、暗袋

最广泛使用的像质计型式主要是()A、丝型像质计B、阶梯孔型像质计C、平板孔型像质计D、以上都是

有关像质计使用的说法正确的是()A、摆放像质计时,摆放位置一般是在射线透照区内灵敏度较低部位B、采用单壁透照法时,像质计如不能放在近射源侧的表面则要做对比试验C、当像质计摆放在胶片侧时应加放“F”标记D、以上都对

采用双壁单影透照管径小于90mm的环焊缝时,像质计应放置在受检区焊缝的()表面上

工业射线照相用的像质计大致有()A、金属丝型像质计B、孔型像质计C、槽型像质计D、以上都是

像质计是用来表征对于某些人工缺陷(如圆孔、沟槽、金属丝)的发现难易程度,它又称作()A、像质计B、透度计C、以上都对

以下有关对比试验的说法正确的是()A、像质计应放置在近射线源一侧的工件表面B、如因工件形状的关系像质计只能放在近胶片一侧工件表面时,可通过对比试验进行修正C、像质计应横跨焊缝放置D、以上都对

像质计的放置原则是什么?

射线源和胶片处于工件两面,透照时的像质计应如何放置?为什么?

在下列叙述中,与JB/T4730.2-2005标准规定符合的是:()A、双壁单影透照像质计放置在胶片侧B、当像质计放置在胶片侧时,应在像质计上适当位置放置铅字“F”作为标记,“F”标记影象应与像质计的标记同时出现在底片上,且应在检测报告中注明C、单壁透照时允许像质计放置在胶片侧,但必须进行对比试验D、当一张胶片上同时透照多条焊接接头时,至少在第一条、中间一条和最后一条焊接接头处各放一个置像质计

常用的像质计是()。A、 槽式像质计B、 线形像质计C、 孔形像质计D、 以上都是

当采用像质计置放在胶片侧时,应在胶片上放置识别铅字母,例如“F”,以示该底片上像质计影像与放置在射源侧情况的区别。

常用的像质计是板式像质计。

当采用像质计置放在胶片侧时,应在胶片上放置识别铅字母,例如“F”,以示该底片上像质计影像与放置在放射源侧情况的区别。()

单选题工业射线照相用的像质计大致有()A金属丝型像质计B孔型像质计C槽型像质计D以上都是

单选题最广泛使用的像质计型式主要是()A丝型像质计B阶梯孔型像质计C平板孔型像质计D以上都是

多选题以下属于射线拍片时使用的相关器材是()A增感屏B光照计C像质计D暗袋

单选题常用的像质计是()。A槽式像质计B线形像质计C孔形像质计D以上都是

问答题像质计的放置原则是什么?

判断题像质计一般应放置在工件源侧表面焊接接头的中间位置。A对B错

单选题以下有关对比试验的说法正确的是()A像质计应放置在近射线源一侧的工件表面B如因工件形状的关系像质计只能放在近胶片一侧工件表面时,可通过对比试验进行修正C像质计应横跨焊缝放置D以上都对

单选题有关像质计使用的说法正确的是()A摆放像质计时,摆放位置一般是在射线透照区内灵敏度较低部位B采用单壁透照法时,像质计如不能放在近射源侧的表面则要做对比试验C当像质计摆放在胶片侧时应加放“F”标记D以上都对

单选题阶梯孔型像质计在显示射线照相技术变化对影像质量的影响方面和丝型像质计相比()A阶梯孔型像质计更灵敏些B丝型像质计更灵敏些C两者灵敏性相同D以上都不是

单选题下述有关像质计特质的叙述中,不正确的是()A像质计材质和试件有相当的射线吸收系数B像质计形状与尺寸都是已知的C像质计和试件一起成像,而用来鉴定试件品质的重要工具D像质计并不直接用来和缺陷尺寸相比较