单选题不同像质计给出的射线照相灵敏度之间()A有直接换算公式B不能简单互换C可以简单互换D以上都不是

单选题
不同像质计给出的射线照相灵敏度之间()
A

有直接换算公式

B

不能简单互换

C

可以简单互换

D

以上都不是


参考解析

解析: 暂无解析

相关考题:

()是评价射线照相质量最重要指标 A、像质等级B、灵敏度C、射线能量D、曝光规范

不同像质计给出的射线照相灵敏度之间()A、有直接换算公式B、不能简单互换C、可以简单互换D、以上都不是

阶梯孔型像质计在显示射线照相技术变化对影像质量的影响方面和丝型像质计相比()A、阶梯孔型像质计更灵敏些B、丝型像质计更灵敏些C、两者灵敏性相同D、以上都不是

什么是使用像质计的局限性?()A、不能提供射线照相检验灵敏度的永久性证据B、不能比较两种不同透照技术的质量高低;C、不能提供可检出缺陷尺寸的度量指示D、不能验证所用透照工艺的适当性

像质计是判别射线照像质量和测定照像灵敏度的器件。

采用不同的透照方法能获得相同的金属丝像质计灵敏度,但不一定能给出相同的裂纹检出灵敏度。

以下有关放置像质计的说法正确的是()A、原则上每一张射线底片都应放置像质计B、周向曝光技术中,在至少每隔120º的位置上放置一个像质计C、像质计一般放在射线底片的两端,像质计最细的金属丝应靠近端头处D、以上都对

JIS规定,不锈钢材接受射线照相所需的线型像质计编号开头字母为()A、FB、SC、ZD、G

像质计是用来鉴定()A、影像灵敏度B、影像黑度C、射线强度D、电流大小

射线照相中,使用象质计的主要目的是()A、测量缺陷大小B、评价底片灵敏度C、测定底片清晰度D、以上都是

工业射线照相用的像质计大致有()A、金属丝型像质计B、孔型像质计C、槽型像质计D、以上都是

射线照相灵敏度的绝对灵敏度就是()A、射线照片上可发现的最小缺陷尺寸B、射线照片上可识别的像质计最小细节尺寸C、对所有像质计统一规定的像质指数D、以上都不是

为什么说像质计灵敏度不能等于缺陷灵敏度?

下面关于像质计的叙述中,正确的是()A、各种像质计设计了自己特定的结构和细节形式,规定了自己的测定射线照相灵敏度的方法,它们之间不能简单换算B、各种像质计有自己特定的结构和细节形式,但它们测定射线照相灵敏度的方法是相同或相似的C、用不同像质计得到的射线照相灵敏度值如果相同,就意味着射线照片的影像质量相同D、以上都不对

对复合材料制件进行X射线照相检验时,可采用GB55618规定的像质计

像质计的摆放位置应是射线照射范围内显示灵敏度最()的位置

对不同型式的像质计来说,只要采用相同的透照技术,像质计灵敏度的数值一般都相同。

射线照相法是利用X、γ射线穿透工件,以()作为记录信息的无损检测方法。A、像质计B、胶片C、评定尺D、增感屏

填空题像质计的摆放位置应是射线照射范围内显示灵敏度最()的位置

单选题工业射线照相用的像质计大致有()A金属丝型像质计B孔型像质计C槽型像质计D以上都是

判断题对复合材料制件进行X射线照相检验时,可采用GB55618规定的像质计A对B错

单选题射线照相灵敏度的绝对灵敏度就是()A射线照片上可发现的最小缺陷尺寸B射线照片上可识别的像质计最小细节尺寸C对所有像质计统一规定的像质指数D以上都不是

单选题什么是使用像质计的局限性?()A不能提供射线照相检验灵敏度的永久性证据B不能比较两种不同透照技术的质量高低;C不能提供可检出缺陷尺寸的度量指示D不能验证所用透照工艺的适当性

单选题射线照相中,使用象质计的主要目的是()A测量缺陷大小B评价底片灵敏度C测定底片清晰度D以上都是

单选题像质计是用来鉴定()A影像灵敏度B影像黑度C射线强度D电流大小

单选题下面关于像质计的叙述中,正确的是()A各种像质计设计了自己特定的结构和细节形式,规定了自己的测定射线照相灵敏度的方法,它们之间不能简单换算B各种像质计有自己特定的结构和细节形式,但它们测定射线照相灵敏度的方法是相同或相似的C用不同像质计得到的射线照相灵敏度值如果相同,就意味着射线照片的影像质量相同D以上都不对

单选题阶梯孔型像质计在显示射线照相技术变化对影像质量的影响方面和丝型像质计相比()A阶梯孔型像质计更灵敏些B丝型像质计更灵敏些C两者灵敏性相同D以上都不是