填空题纵波垂直法探伤中,由于侧壁干涉的结果,侧面壁附近的缺陷,靠近侧壁探测时回波(),远离侧壁探测时回波()。

填空题
纵波垂直法探伤中,由于侧壁干涉的结果,侧面壁附近的缺陷,靠近侧壁探测时回波(),远离侧壁探测时回波()。

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相关考题:

被探钢板厚度为19毫米,探测时,当波形出现叠加效应,则对缺陷的评价应以()为据A.F1回波的大小B.F2回波的大小C.B1回波的大小D.以上都不对

纵波垂直法探伤中,由于侧壁干涉的结果,侧面壁附近的缺陷,靠近侧壁探测时回波(),远离侧壁探测时回波()。

纵波直探头在检测工件时,有时会产生侧壁干涉。侧壁干涉对检测结果的影响()。A、 影响缺陷的定量B、 影响缺陷的定位C、 影响缺陷的定量 、定位D、 检测结果评级的影响

A型扫描显示中,荧光屏上垂直显示大小表示:()A、超声回波的幅度大小B、缺陷的位置C、被探材料的厚度D、超声传播时间

焊缝横波检测时,裂纹等危害性缺陷的反射回波一般很高并且包络较宽。

超声波检测中避免在近场区定量的原因是()。A、 近场区的回波声压很高,定量不准确B、 在近场区检测时,由于探头存在盲区,易形成漏检C、 在近场区检测时,处于声压极小值处较大缺陷回波可能较低;处于声压极大值处的较小缺陷可能回波较高,容易出现误判D、 以上都对

对接焊接接头斜探头检测时,与主声束垂直的缺陷,缺陷表面状态对回波高度的影响是()。A、 缺陷回波波高随粗糙度增大而下降B、 无影响C、 缺陷回波波高随粗糙度增大而增大D、 以上都对

对轴类工件作外圆径向纵波检测时,曲底面回波声压与同声程理想大平底回波声压反射规律不同。

纵波垂直法探伤中,由于侧壁干涉的结果,侧面壁附近的缺陷,靠近侧壁探测时(),远离侧壁探测时()。

在锻件直探头探伤时可能定不准靠近侧壁的缺陷的位置,其原因是()。A、探头太大,无法移至边缘B、侧壁反射波发生干涉C、频率太高D、以上都不是

长轴类锻件从端面作轴向检测时,容易出现的非缺陷回波是()A、三角反射波B、61°反射波C、轮廓回波D、迟到波

长轴类锻件从端面作轴向探测时,容易出现的非缺陷回波是()。A、迟到波B、61°反射波C、材料晶界回波D、以上都不对

在探测工件侧壁附近的缺陷时,由于存在着(),所以探伤灵敏度会明显偏低。A、侧壁干扰B、61°角反射波C、工件底面不平D、以上都对

对于厚度不大,表面不很光滑的铸件,可采用()检查,并观察一次底回波与二次底回波之间是否有缺陷回波。A、纵波法B、横波法C、多次回波法D、分层探伤法

被探钢板厚度为19㎜,探测时,当波形出现叠加效应,则对缺陷的评价应以()为据。A、F1回波的大小B、F2回波的大小C、B1回波的大小D、以上都不对

盲区最小的探伤方法是()A、缺陷回波法B、底面多次回波法C、透过波高度法D、表面波法

在超声波探伤中,由于缺陷与被探材料的()不同,才会产生回波信号。

钢板探伤中,声速垂直入射缺陷表面,回波高度()。A、粗糙表面回波幅度高B、无影响C、光滑表面回波幅度高D、以上都可能

纵波垂直法探伤中,由于()的结果,靠近侧壁探测时缺陷回波低,远离侧壁探测时缺陷回波高。A、侧壁干涉B、波的叠加C、波的绕射D、波的衍射

单选题超声波检测中避免在近场区定量的原因是()。A 近场区的回波声压很高,定量不准确B 在近场区检测时,由于探头存在盲区,易形成漏检C 在近场区检测时,处于声压极小值处较大缺陷回波可能较低;处于声压极大值处的较小缺陷可能回波较高,容易出现误判D 以上都对

单选题纵波直探头在检测工件时,有时会产生侧壁干涉。侧壁干涉对检测结果的影响()。A 影响缺陷的定量B 影响缺陷的定位C 影响缺陷的定量 、定位D 检测结果评级的影响

单选题用直探头在工件端面探测离侧壁极近的小缺陷时,探头最不利的探测位置是()A尽可能靠近侧壁;B离侧壁10mm;C离侧壁一个探头直径的距离处;D离侧壁二个探头直径的距离处。

单选题对接焊接接头斜探头检测时,与主声束垂直的缺陷,缺陷表面状态对回波高度的影响是()。A 缺陷回波波高随粗糙度增大而下降B 无影响C 缺陷回波波高随粗糙度增大而增大D 以上都对

填空题在超声波探伤中,由于缺陷与被探材料的()不同,才会产生回波信号。

填空题纵波垂直法探伤中,由于侧壁干涉的结果,侧面壁附近的缺陷,靠近侧壁探测时回波(),远离侧壁探测时回波()。

填空题纵波垂直法探伤中,由于侧壁干涉的结果,侧面壁附近的缺陷,靠近侧壁探测时(),远离侧壁探测时()。

判断题对轴类工件作外圆径向纵波检测时,曲底面回波声压与同声程理想大平底回波声压反射规律不同。A对B错

单选题在锻件直探头探伤时可能定不准靠近侧壁的缺陷的位置,其原因是()。A探头太大,无法移至边缘B侧壁反射波发生干涉C频率太高D以上都不是