用工件底面调整探伤灵敏度( )。A、容易确定缺陷的位置B、定量较准确C、可以不考虑工件表面的耦合补偿D、杂波干扰少
锻件超声波探伤中,荧光屏上出现“淋状波”时,是由于()。 A、工件中有大面积倾斜缺陷B、工件材料晶粒粗大C、工件中有密集缺陷D、以上全部
用直探头检验钢锻件时,引起底波明显降低或消失的因素有()。 A、底面与探伤面不平行B、工件内部有倾斜的大缺陷C、工件内部有材质衰减大的部位D、以上全部
纵波垂直法探伤中，由于侧壁干涉的结果，侧面壁附近的缺陷，靠近侧壁探测时回波（），远离侧壁探测时回波（）。
用直探头检测锻件时，引起底波明显降低或消失的因素是（）。A、 底面与检测面不平行B、 工件内部有倾斜的大缺陷C、 工件内部有材质率减大的部位D、 以上都对
垂直探伤时，工件探测面与底面不平行，底波将（）或（）
锻件探伤中，荧光屏上出现“林状（丛状）波”时，是由于（）A、工件中有小而密集缺陷B、工件材料中有局部晶粒粗大区域C、工件中有疏松缺陷D、以上都有可能
锻件探伤中，荧光屏上出现“林状波”时，是由于（）A、工件中有大面积倾斜缺陷B、工件材料晶粒粗大C、工件中有密集缺陷D、以上全部
纵波垂直法探伤中，由于侧壁干涉的结果，侧面壁附近的缺陷，靠近侧壁探测时（），远离侧壁探测时（）。
用直探头检验钢锻件时，引起底波明显降低或消失的因素有（）A、底面与探伤面不平行B、工件内部有倾斜的大缺陷C、工件内部有材质衰减大的部位D、以上都有可能
饼形大锻件探伤，如果用底波调节探伤起始灵敏度，对工件底面有何要求？
在锻件直探头探伤时可能定不准靠近侧壁的缺陷的位置，其原因是（）。A、探头太大，无法移至边缘B、侧壁反射波发生干涉C、频率太高D、以上都不是
锻件探伤中，引起底波降低或消失的原因有（）。A、 探头接触不良B、 遇到了材质衰减大的部位C、 工件底面不平整D、 以上都对
直探头从端面对长条形工件探伤时，容易产生（）。A、三角反射波B、61°反射波C、轮廓回波D、迟到波
（）是指在斜射探伤中，超声束不经工件底面反射而直接对准缺陷的方法。A、 一次波法B、 二次波法C、 底面回波法D、 以上都不是
在直探头探伤过程中，引起底波高度明显下降或消失的因素有（）。A、 探头接触不良B、 遇到材质衰减大的部位C、 工件底面不平或工件内部有缺陷D、 以上都对
纵波垂直法探伤中，由于（）的结果，靠近侧壁探测时缺陷回波低，远离侧壁探测时缺陷回波高。A、侧壁干涉B、波的叠加C、波的绕射D、波的衍射
填空题纵波垂直法探伤中，由于侧壁干涉的结果，侧面壁附近的缺陷，靠近侧壁探测时（），远离侧壁探测时（）。
填空题垂直探伤时，工件探测面与底面不平行，底波将（）或（）
单选题用直探头检测锻件时，引起底波明显降低或消失的因素是（）。A 底面与检测面不平行B 工件内部有倾斜的大缺陷C 工件内部有材质率减大的部位D 以上都对
填空题纵波垂直法探伤中，由于侧壁干涉的结果，侧面壁附近的缺陷，靠近侧壁探测时回波（），远离侧壁探测时回波（）。
单选题锻件探伤中，引起底波降低或消失的原因有（）。A探头接触不良B遇到了材质衰减大的部位C工件底面不平整D以上都对
单选题用直探头检验钢锻件时，引起底波明显降低或消失的因素有（）A底面与探伤面不平行B工件内部有倾斜的大缺陷C工件内部有材质衰减大的部位D以上都有可能
单选题用直探头在工件端面探测离侧壁极近的小缺陷时，探头最不利的探测位置是（）A尽可能靠近侧壁；B离侧壁10mm；C离侧壁一个探头直径的距离处；D离侧壁二个探头直径的距离处。
单选题用工件底面调整探伤灵敏度（）A容易确定缺陷的位置B定量较准确C可以不考虑工件表面的耦合补偿D杂波干扰少
单选题在直探头探伤过程中，引起底波高度明显下降或消失的因素有（）。A探头接触不良B遇到材质衰减大的部位C工件底面不平或工件内部有缺陷D以上都对
单选题（）是指在斜射探伤中，超声束不经工件底面反射而直接对准缺陷的方法。A一次波法B二次波法C底面回波法D以上都不是