在对接焊接接头超声检测中，选择探头K值的依据是（）A、使声束能扫查到整个焊接接头截面B、使声束中心线尽量与主要危险缺陷垂直C、保证有足够的检测灵敏度D、以上同时考虑
在超声探伤时，如果声束指向不与平面缺陷垂直，则缺陷尺寸一定时，缺陷表面越平滑反射回波越：（）A、大B、小C、无影响D、不一定
当用一个探头探测某缺陷时，如果该缺陷会给出多个回波显示，则所用探头的主声束可能存在下述情况（）A、横向声压不均匀B、纵向声压不均匀C、声束有歪斜现象D、以上都不对
为了得到最强的缺陷反射，探头的波束应该（）A、声束与缺陷平行B、声束与缺陷垂直C、声波从缺陷边缘穿过D、以上都可以
探伤前必须调校仪器灵敏度，探头置于试块上，主声束垂直扫查人工缺陷，找出最高反射法，将反射回波的幅度调到标准要求的高度。
横波斜探头检测时，受分辨力的影响，焊缝中的近表面缺陷不易检出。
对接焊接接头斜探头检测时，与主声束垂直的缺陷，缺陷表面状态对回波高度的影响是（）。A、 缺陷回波波高随粗糙度增大而下降B、 无影响C、 缺陷回波波高随粗糙度增大而增大D、 以上都对
在直接接触法直探头检测时，底波消失的原因是（）。A、耦合不良B、存在与声束不垂直的平面缺陷C、存在与始脉冲不能分开的近表面缺陷D、以上都可能造成底波消失
NB/T47013.3-2015标准规定，在用承压设备对接焊接接头超声检测时，对超标缺陷和判定为危害性的缺陷，应测试其：（）A、回波幅度和指示长度B、埋藏深度和缺陷位置C、缺陷自身高度D、以上都是
检测与焊接接头垂直或成一定角度的缺陷，最好采用（） 。A、 直探头B、 双晶探头C、 横波斜探头D、 聚焦探头
直探头接触法探伤时，底面回波降低或消失的原因是（）。A、 耦合不良B、 存在与声束不垂直的缺陷C、 存在与始脉冲不能分开的近表面缺陷D、 以上都可能
与声束不垂直的光滑平面状缺陷反射波的显示不是（）。A、回波幅度与底面反射波高度相差不大B、底面反射完全消失C、缺陷反射波高于底面回波D、底波与缺陷波同时存在
斜探头探测两个表面光滑平整、相互平行，但与入射声束取向不良的缺陷。其当量为面积小于声束截面的当量反而（）。
探伤前必须调校仪器的灵敏度，探头置于试块上，主声束垂直扫查人工缺陷，找出（），将反射回波的幅度调到标准要求的高度。
焊缝斜探头探伤时，焊缝中与表面成一定角度的缺陷，其表面状态对回波高度的影响是：（）。A、无影响B、粗糙表面回波幅度高C、光滑表面回波幅度高D、以上都是
声探伤时，如果声束指向不与平面缺陷垂直，则缺陷尺寸一定时，缺陷表面越平滑反射回波越（）A、大B、小C、无影响D、不一定
在直接接触法垂直探伤时，底面回波消失的原因的（）A、耦合不良B、缺陷面积大于声束截面C、存在与声束垂直的平面型缺陷D、以上都不是
选择探头K值时，应考虑缺陷的取向，应尽可能使声束与缺陷垂直
判断题选择探头K值时，应考虑缺陷的取向，应尽可能使声束与缺陷垂直A对B错
单选题为了得到最强的缺陷反射，探头的波束应该（）A声束与缺陷平行B声束与缺陷垂直C声波从缺陷边缘穿过D以上都可以
单选题声探伤时，如果声束指向不与平面缺陷垂直，则缺陷尺寸一定时，缺陷表面越平滑反射回波越（）A大B小C无影响D不一定
单选题在对接焊接接头超声检测中，选择探头K值的依据是（）。A 使声束能扫查到整个焊接接头截面B 使声束中心线尽量与主要危险缺陷垂直C 保证有足够的检测灵敏度D 以上同时考虑
单选题检测与焊接接头垂直或成一定角度的缺陷，最好采用（） 。A 直探头B 双晶探头C 横波斜探头D 聚焦探头
单选题在超声探伤时，如果声束指向不与平面缺陷垂直，则缺陷尺寸一定时，缺陷表面越平滑反射回波越：（）A大B小C无影响D不一定
单选题NB/T47013.3-2015标准规定，在用承压设备对接焊接接头超声检测时，对超标缺陷和判定为危害性的缺陷，应测试其：（）A回波幅度和指示长度B埋藏深度和缺陷位置C缺陷自身高度D以上都是
单选题焊缝斜探头探伤时，焊缝中与表面成一定角度的缺陷，其表面状态对回波高度的影响是：（）。A无影响B粗糙表面回波幅度高C光滑表面回波幅度高D以上都是
单选题在直接接触法直探头检测时，底波消失的原因是（）。A耦合不良B存在与声束不垂直的平面缺陷C存在与始脉冲不能分开的近表面缺陷D以上都可能造成底波消失