纵波垂直法探伤中,由于()的结果,靠近侧壁探测时缺陷回波低,远离侧壁探测时缺陷回波高。A、侧壁干涉B、波的叠加C、波的绕射D、波的衍射

纵波垂直法探伤中,由于()的结果,靠近侧壁探测时缺陷回波低,远离侧壁探测时缺陷回波高。

  • A、侧壁干涉
  • B、波的叠加
  • C、波的绕射
  • D、波的衍射

相关考题:

按JB/T4730-2005《承压设备无损检测》规定的对缺陷自身高测定方法是依据:() A.端部最大回波和端点衍射波法是利用回波高度B.端部最大回波法和端点衍射波法是利用回波延迟时间差C.端部最大回波法和半波高度法是利用回波高度D.半波高度法和端点衍射波法是利用回波延迟时间差

长轴类锻件从端面作轴向超声波探测时,容易出现的非缺陷回波是()。 A、三角反射波B、61°反射波C、轮廓回波D、迟到波

被探钢板厚度为19毫米,探测时,当波形出现叠加效应,则对缺陷的评价应以()为据A.F1回波的大小B.F2回波的大小C.B1回波的大小D.以上都不对

长轴类锻件从端面做轴向探测时,容易出现的非缺陷回波是()A.三角反射波B.61°反射波C.轮廓回波D.迟到波

纵波垂直法探伤中,由于侧壁干涉的结果,侧面壁附近的缺陷,靠近侧壁探测时回波(),远离侧壁探测时回波()。

纵波直探头在检测工件时,有时会产生侧壁干涉。侧壁干涉对检测结果的影响()。A、 影响缺陷的定量B、 影响缺陷的定位C、 影响缺陷的定量 、定位D、 检测结果评级的影响

纵波垂直法探伤中,由于侧壁干涉的结果,侧面壁附近的缺陷,靠近侧壁探测时(),远离侧壁探测时()。

在锻件直探头探伤时可能定不准靠近侧壁的缺陷的位置,其原因是()。A、探头太大,无法移至边缘B、侧壁反射波发生干涉C、频率太高D、以上都不是

检测厚钢板采用垂直法探伤时,根据()前后产生的回波情况进行缺陷评定。A、第一次底波B、第二次底波C、多次底波D、缺陷的水平距离

长轴类锻件从端面作轴向检测时,容易出现的非缺陷回波是()A、三角反射波B、61°反射波C、轮廓回波D、迟到波

长轴类锻件从端面作轴向探测时,容易出现的非缺陷回波是()。A、迟到波B、61°反射波C、材料晶界回波D、以上都不对

在探测工件侧壁附近的缺陷时,由于存在着(),所以探伤灵敏度会明显偏低。A、侧壁干扰B、61°角反射波C、工件底面不平D、以上都对

钢板探伤中可根据()判断缺陷是否存在。A、参考回波减弱B、缺陷回波C、底波D、以上都对

被探钢板厚度为19㎜,探测时,当波形出现叠加效应,则对缺陷的评价应以()为据。A、F1回波的大小B、F2回波的大小C、B1回波的大小D、以上都不对

有缺陷存在,但在仪器示波屏上不显示缺陷回波的探伤方法称为()。A、反射法B、穿透法C、连续波法D、闭波法

盲区最小的探伤方法是()A、缺陷回波法B、底面多次回波法C、透过波高度法D、表面波法

长轴类锻件从端面作轴向探测时,容易出现的非缺陷回波是()。A、三角反射波B、61度反射波C、轮廓回波D、迟到波

在脉冲反射法探伤中可根据什么判断缺陷的存在()。A、缺陷回波B、底波或参考回波的减弱C、底波或参考回波的消失D、接收探头接收到的能量的减弱

有体积状缺陷存在,但不会在仪器示波屏上显示缺陷回波的探伤方法,可能是:()A、垂直法B、表面波法C、斜射法D、穿透法

有缺陷存在,但不会在仪器示波屏上显示缺陷回波的探伤方法,称为()。A、垂直法B、表面波法C、斜射法D、穿透法

单选题有缺陷存在,但在仪器示波屏上不显示缺陷回波的探伤方法称为()。A反射法B穿透法C连续波法D闭波法

填空题纵波垂直法探伤中,由于侧壁干涉的结果,侧面壁附近的缺陷,靠近侧壁探测时(),远离侧壁探测时()。

单选题有缺陷存在,但不会在仪器示波屏上显示缺陷回波的探伤方法,称为()。A垂直法B表面波法C斜射法D穿透法

单选题长轴类锻件从端面作轴向探测时,容易出现的非缺陷回波是()。A三角反射波B61度反射波C轮廓回波D迟到波

填空题纵波垂直法探伤中,由于侧壁干涉的结果,侧面壁附近的缺陷,靠近侧壁探测时回波(),远离侧壁探测时回波()。

单选题在锻件直探头探伤时可能定不准靠近侧壁的缺陷的位置,其原因是()。A探头太大,无法移至边缘B侧壁反射波发生干涉C频率太高D以上都不是

单选题盲区最小的探伤方法是()A缺陷回波法B底面多次回波法C透过波高度法D表面波法