以相同的探测灵敏度探测位于粗晶铸件和经过调质锻件中的缺陷，如两者探测面状态一样，同处深度200mm处的缺陷回波高度也一样，则两者的缺陷：（）A、当量相同B、铸件中的大C、锻件中的大D、上述都不对
以相同的探测灵敏度探测位于粗晶铸件和经过调质锻件中的缺陷，如两者探测面状态一样，同处深度200mm处的缺陷回波高度也一样，则两者的缺陷：（）
- A、当量相同
- B、铸件中的大
- C、锻件中的大
- D、上述都不对
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用垂直法以相同探测灵敏度探测同一试件同深度上的两个缺陷,调节衰减器使其回波降至屏高的50%,前一个缺陷回波至此高度时衰减器读数是10dB,后一个缺陷回波至此高度时衰减器读数是40dB则() A、前一个缺陷大于后一个B、后一个缺陷大于前一个C、两者一样大D、任意
厚度均为400mm但材质衰减不同的两个锻件，各自采用底波校正灵敏度（Φ2mm平底孔），在工件中间相同声程处发现相同波高的缺陷，则（）A、两个缺陷当量相同B、衰减大的锻件中缺陷当量小C、衰减小的锻件中缺陷当量小D、不一定
用垂直法以相同探测灵敏度探测同一试件同深度上的两个缺陷，调节衰减器使其回波降至屏高的50％，前一个缺陷回波至此高度时衰减器读数是10dB，后一个缺陷回波至此高度时衰减器读数是40dB则（）。A、前一个缺陷大于后一个B、后一个缺陷大于前一个C、两者一样大D、两者大小关系不确定
单选题厚度均为400mm，但材质衰减不同的两个锻件，采用各自底面校正400/Φ2灵敏度进行分别探测，现两个锻件中均发现缺陷，且回波高度和缺陷声程均相同，则：（）A两个缺陷当量相同B材质衰减大的锻件中缺陷当量小C材质衰减小的锻件中缺陷当量小D以上都不对
单选题以下叙述中哪一条不是聚焦探头的优点（）A灵敏度高B横向分辨率高C纵向分辨率高D探测粗晶材料时信噪比高