单选题若用直探头反射法探测厚铸件,为降低粗晶草状回波干扰,可采取()A采用低频直探头,分层调整探伤灵敏度B转换为横波探伤C用水做耦合剂D不加耦合剂

单选题
若用直探头反射法探测厚铸件,为降低粗晶草状回波干扰,可采取()
A

采用低频直探头,分层调整探伤灵敏度

B

转换为横波探伤

C

用水做耦合剂

D

不加耦合剂


参考解析

解析: 暂无解析

相关考题:

直探头探测厚250mm及500mm两锻件,若后者与前者耦合差4dB,材质衰减均为0、004dB/mm,前者底面回波为满幅度的80%时,则后者底面回波应( )。A、5%B、10%C、20%D、40%

因为0°探头探测轨腰水平裂纹时有回波显示,所以0°探头采用的探伤方法是脉冲反射法和穿透法。()此题为判断题(对,错)。

通常所称的游动缺陷回波是指用()探测到的。 A、直探头B、斜探头C、联合双探头D、均不能

通常所称的流动缺陷回波是指用直探头探测到的。

若用直探头反射法探测厚铸件,为降低粗晶草状回波干扰,可采取()A、采用低频直探头,分层调整探伤灵敏度B、转换为横波探伤C、用水做耦合剂D、不加耦合剂

直探头探测厚100mm和400mm的两平底面锻件,若后者探测面粗糙,与前者耦合差为5db,材质衰减均为0.01Db/mm(双程),今将前者底面回波调至满幅(100%)高,则后者的底面回波应是满幅度的:()A、40%B、20%C、10%D、5%

由粗晶组织引起的散射,在示波屏上会看到()。A、 工件底面回波B、 始脉冲消失C、 草状回波D、 以上都不对

直探头从端部探测细棒状工件时,在底波后面出现的迟到波是由于声束射到工件侧面产生()所致。A、窄脉冲B、衰减C、波型转换D、粗晶

以相同的探测灵敏度探测位于粗晶铸件和经过调质锻件中的缺陷,如两者探测面状态一样,同处深度200mm处的缺陷回波高度也一样,则两者的缺陷:()A、当量相同B、铸件中的大C、锻件中的大D、上述都不对

在用0°探头自轨面对铝热焊缝探测时,造成轨底回波高度明显下降的原因可能是()。A、疏松B、粗晶C、裂纹D、A与B

因为0°探头探测轨腰水平裂纹时有回波显示,所以0°探头采用的探伤方法是脉冲反射法和穿透法。

中等厚度钢板直探头多次反射法探伤,缺陷位于()时,缺陷回波之间会发生迭加效应。

直径40mm、长100mm的钢试件,用尺寸相当的直探头在端面探测时,则迟到回波至底面回波的间距是()。

厚度为600mm的铝试件,用直探头测得一回波的传播时间为165μs,若纵波在铝中声速为6300m/s则此回波是()A、底面回波B、底面二次回波C、缺陷回波D、迟到回波

探测粗晶材料时,通常采用较低频率的探头是为了减小衰减。

以相同的探测灵敏度探测粗晶铸件或经过调质锻件中的缺陷,如两者探测面状态一样,在相同深度时缺陷的回波高度也一样,则两者的缺陷铸件中的大。

直探头探测厚250mm及500mm两饼形锻外,•若后者探测面毛糙,•与前者耦合差4dB,材质衰减均为0.004dB/mm前者的底面回波调至示波屏满幅度的100%,则后者的底面回波应为满幅度的()。A、5%B、10%C、20%D、40%

通常所称的游动缺陷回波是指用()探测到的。A、直探头B、斜探头C、联合双探头D、联合单探头

单选题由粗晶组织引起的散射,在示波屏上会看到()。A工件底面回波B始脉冲消失C草状回波D以上都不对

单选题直探头探测厚250mm及500mm两饼形锻外,若后者探测面毛糙,与前者耦合差4dB,材质衰减均为0.004dB/mm前者的底面回波调至示波屏满幅度的100%,则后者的底面回波应为满幅度的()。A5%B10%C20%D40%

单选题直探头探测厚250mm及500mm两锻件,若后者与前者耦合差4dB,材质衰减均为0.004dB/mm,前者底面回波为满幅度80%时,则后者底面回波应为其()。A5%B10%C20%D40%

填空题直径40mm、长100mm的钢试件,用尺寸相当的直探头在端面探测时,则迟到回波至底面回波的间距是()。

单选题厚度为600mm的铝试件,用直探头测得一回波的传播时间为165μs,若纵波在铝中声速为6300m/s则此回波是:()A底面回波B底面二次回波C缺陷回波D迟到回波

判断题因为0°探头探测轨腰水平裂纹时有回波显示,所以0°探头采用的探伤方法是脉冲反射法和穿透法。A对B错

单选题在用0°探头自轨面对铝热焊缝探测时,造成轨底回波高度明显下降的原因可能是()。A疏松B粗晶C裂纹DA与B

单选题直探头探测厚100mm和400mm的两平底面锻件,若后者探测面粗糙,与前者耦合差为5db,材质衰减均为0.01Db/mm(双程),今将前者底面回波调至满幅(100%)高,则后者的底面回波应是满幅度的:()A40%B20%C10%D5%

判断题以相同的探测灵敏度探测粗晶铸件或经过调质锻件中的缺陷,如两者探测面状态一样,在相同深度时缺陷的回波高度也一样,则两者的缺陷铸件中的大。A对B错