用垂直法以相同探测灵敏度探测同一试件同深度上的两个缺陷,调节衰减器使其回波降至屏高的50%,前一个缺陷回波至此高度时衰减器读数是10dB,后一个缺陷回波至此高度时衰减器读数是40dB则()。A、前一个缺陷大于后一个B、后一个缺陷大于前一个C、两者一样大D、两者大小关系不确定

用垂直法以相同探测灵敏度探测同一试件同深度上的两个缺陷,调节衰减器使其回波降至屏高的50%,前一个缺陷回波至此高度时衰减器读数是10dB,后一个缺陷回波至此高度时衰减器读数是40dB则()。

  • A、前一个缺陷大于后一个
  • B、后一个缺陷大于前一个
  • C、两者一样大
  • D、两者大小关系不确定

相关考题:

超声探伤系统中,以一定电平表示的标准缺陷探测灵敏度与最大探测灵敏度之间的差值。其含意是仪器和探头组合检测最小缺陷的能力,称为( )。A、水平线性B、垂直线性C、动态范围D、灵敏度余量

用垂直法以相同探测灵敏度探测同一试件同深度上的两个缺陷,调节衰减器使其回波降至屏高的50%,前一个缺陷回波至此高度时衰减器读数是10dB,后一个缺陷回波至此高度时衰减器读数是40dB则() A、前一个缺陷大于后一个B、后一个缺陷大于前一个C、两者一样大D、任意

用探测面为平面的对比试块中 φ 2mm平底孔校准的探伤灵敏度,去探测一个探测面为圆柱面的试件,发现一个深度和回波高度均与试块相同的缺陷,则该缺陷的当量。( )A.等于φ2mm平底孔B.比φ2mm平底孔大C.比φ2mm平底孔小D.不小于φ2mm平底孔

焊缝用串列探头进行扫查,主要用于检测()A.平行于探测面的缺陷B.与探测面倾斜的缺陷C.垂直于探测面的缺陷D.不能用斜探头检测的缺陷

焊缝用串列探头进行扫查,主要用于检测()A、平行于探测面的缺陷B、与探测面倾斜的缺陷C、垂直于探测面的缺陷D、不能用斜探头检测的缺陷

尺寸和深度都相同的缺陷,在相同探伤灵敏度下探测,回波最高的是最大表面与波束轴线()。A、呈75°角且平滑的缺陷B、呈75°角且粗糙的缺陷C、呈90°角且平滑的缺陷D、相垂直且粗糙的缺陷

在超声波检测中,相同的探测灵敏度下,缺陷波幅决定于缺陷的()、()与()

下列关于用触头法探测钢板对接焊缝的说法,正确的是()。A、为了检出横向缺陷,触头连线应与焊缝垂直B、在检测范围内,磁场强度的方向和大小并不是完全相同的C、必须注意通电时试件的烧损问题D、以上都是

用试件底面的方法校准探测灵敏度时,底面所在部位应平整()。A、无缺陷B、有规则的缺陷C、有小缺陷D、以上均不是

磁粉探伤方法只能探测开口于试件表面的缺陷,而不能探测近表面缺陷

垂直法探伤所定的缺陷深度也就是缺陷的()。A、长度B、垂直距离C、深入探测面的深度D、声程或至探测面的垂直距离

在超声波检测中,相同的探测灵敏度下,缺陷波幅决定于缺陷的大小()与类型

用2.5P20Z直探头探测厚400mm的钢试件,探测要求为直径φ4mm当量平底孔直径,试用底面法调整探伤灵敏度。(CL=5900m/s)

以相同的探测灵敏度探测位于粗晶铸件和经过调质锻件中的缺陷,如两者探测面状态一样,同处深度200mm处的缺陷回波高度也一样,则两者的缺陷:()A、当量相同B、铸件中的大C、锻件中的大D、上述都不对

探测灵敏度的高低,应由试件检验人员决定。

垂直法探伤所定的缺陷深度也就是缺陷的()A、声程B、至探测面的垂直距离C、深入探测面的深度D、A和B

垂直法探伤所定的缺陷深度,也就是缺陷至探测面的垂直距离.

以相同的探测灵敏度探测粗晶铸件或经过调质锻件中的缺陷,如两者探测面状态一样,在相同深度时缺陷的回波高度也一样,则两者的缺陷铸件中的大。

垂直法探伤所定的缺陷深度也就是缺陷()A、声程B、至探测面的垂直距离C、深入探测面的深度

在相同的探测条件下,对同一焊件分别用横波和纵探测的,横波的检测灵敏度比纵波高。

问答题用2.5P20Z直探头探测厚400mm的钢试件,探测要求为直径φ4mm当量平底孔直径,试用底面法调整探伤灵敏度。(CL=5900m/s)

单选题在远场区用探测面为平面的对比试块中的Φ2mm平底孔校准的探伤灵敏度,去探测一个探测面为圆柱面的试件,发现一个深度和回波高度均与上述试块平底回波相同的缺陷,则该缺陷的当量:()A等于Φ2mm平底孔B比Φ2mm平底孔大C比Φ2mm平底孔小D大于等于Φ2mm平底孔

单选题厚度均为400mm,但材质衰减不同的两个锻件,采用各自底面校正400/Φ2灵敏度进行分别探测,现两个锻件中均发现缺陷,且回波高度和缺陷声程均相同,则:()A两个缺陷当量相同B材质衰减大的锻件中缺陷当量小C材质衰减小的锻件中缺陷当量小D以上都不对

多选题垂直法探伤所定的缺陷深度也就是缺陷()A声程B至探测面的垂直距离C深入探测面的深度

单选题垂直法探伤所定的缺陷深度也就是缺陷的()A声程B至探测面的垂直距离C深入探测面的深度DA和B

单选题焊缝用串列探头进行扫查,主要用于检测()A平行于探测面的缺陷B与探测面倾斜的缺陷C垂直于探测面的缺陷D不能用斜探头检测的缺陷

判断题以相同的探测灵敏度探测粗晶铸件或经过调质锻件中的缺陷,如两者探测面状态一样,在相同深度时缺陷的回波高度也一样,则两者的缺陷铸件中的大。A对B错