用垂直法以相同探测灵敏度探测同一试件同深度上的两个缺陷,调节衰减器使其回波降至屏高的50%,前一个缺陷回波至此高度时衰减器读数是10dB,后一个缺陷回波至此高度时衰减器读数是40dB则() A、前一个缺陷大于后一个B、后一个缺陷大于前一个C、两者一样大D、任意
用垂直法以相同探测灵敏度探测同一试件同深度上的两个缺陷,调节衰减器使其回波降至屏高的50%,前一个缺陷回波至此高度时衰减器读数是10dB,后一个缺陷回波至此高度时衰减器读数是40dB则()
A、前一个缺陷大于后一个
B、后一个缺陷大于前一个
C、两者一样大
D、任意
相关考题：
以相同的探测灵敏度探测位于粗晶铸件和经过调质锻件中的缺陷,如两者探测面状态一样,同处深度200mm处的缺陷回波高度也一样,则两者的缺陷() A、当量相同B、铸件中的大C、锻件中的大D、上述都不对
对一个缺陷回波用对比试块中的平底孔作高度比较,其中一个试块的深度与缺陷深度相同,直径为4mm的平底孔回波高度等于缺陷回波,则缺陷当量的大小相当于() A、2mm平底孔B、4mm平底孔C、3mm平底孔D、5mm平底孔
在远场区用探测面为平面的对比试块中的Φ2mm平底孔校准的探伤灵敏度,去探测一个探测面为圆柱面的试件,发现一个深度和回波高度均与上述试块平底回波相同的缺陷,则该缺陷的当量() A、等于Φ2mm平底孔B、比Φ2mm平底孔大C、比Φ2mm平底孔小D、大于等于Φ2mm平底孔
用探测面为平面的对比试块中 φ 2mm平底孔校准的探伤灵敏度，去探测一个探测面为圆柱面的试件，发现一个深度和回波高度均与试块相同的缺陷，则该缺陷的当量。（ ）A.等于φ2mm平底孔B.比φ2mm平底孔大C.比φ2mm平底孔小D.不小于φ2mm平底孔
在用直探头进行水浸法探伤时，探头至探测面的水层距离应调节在使一次与二次界面回波之间至少出现一次()A.缺陷回波B.迟到回波C.底面回波D.侧面回波