以相同的探测灵敏度探测粗晶铸件或经过调质锻件中的缺陷，如两者探测面状态一样，在相同深度时缺陷的回波高度也一样，则两者的缺陷铸件中的大。
以相同的探测灵敏度探测粗晶铸件或经过调质锻件中的缺陷，如两者探测面状态一样，在相同深度时缺陷的回波高度也一样，则两者的缺陷铸件中的大。
相关考题：
有关半导体探测器灵敏度的描述，不正确的是（）A、用硅晶体制成的半导体探测器比相同体积的空气电离室的灵敏度高B、在钻-60伽玛辐射场中，N型半导体探测器的灵敏度比P型半导体探测器的灵敏度受累积剂量的影响要小C、照射野的大小会影响半导体探测器的灵敏度D、环境温度会影响半导体探测器的灵敏度E、剂量率会影响半导体探测器的灵敏度
以相同的探测灵敏度探测位于粗晶铸件和经过调质锻件中的缺陷，如两者探测面状态一样，同处深度200mm处的缺陷回波高度也一样，则两者的缺陷：（）A、当量相同B、铸件中的大C、锻件中的大D、上述都不对
单选题厚度均为400mm，但材质衰减不同的两个锻件，采用各自底面校正400/Φ2灵敏度进行分别探测，现两个锻件中均发现缺陷，且回波高度和缺陷声程均相同，则：（）A两个缺陷当量相同B材质衰减大的锻件中缺陷当量小C材质衰减小的锻件中缺陷当量小D以上都不对
单选题有关半导体探测器灵敏度的描述，不正确的是（）A用硅晶体制成的半导体探测器比相同体积的空气电离室的灵敏度高B在钻-60伽玛辐射场中，N型半导体探测器的灵敏度比P型半导体探测器的灵敏度受累积剂量的影响要小C照射野的大小会影响半导体探测器的灵敏度D环境温度会影响半导体探测器的灵敏度E剂量率会影响半导体探测器的灵敏度
判断题以相同的探测灵敏度探测粗晶铸件或经过调质锻件中的缺陷，如两者探测面状态一样，在相同深度时缺陷的回波高度也一样，则两者的缺陷铸件中的大。A对B错