按JB／T4730－2005《承压设备无损检测》规定:钢板超声波检测对缺陷边界范围或指示长度测量方法,以下叙述正确的是:() A.用双晶直探头测量时，探头移动方向应与探头发射并接收声波的平面平行B.用双晶直探头或单晶直探头测量缺陷时一探头中心点为缺陷边界点C.用双晶直探头或单晶直探头测量缺陷时，以探头离开缺陷边缘为缺陷边界点D.底面第一次底波B1
长方体锻件最主要检测方向是（）。A、 直探头端面检测B、 直探头侧面检测C、 斜探头端面检测D、 直探头垂直的两端面检测
用2.5P20Z的直探头检测厚度90 mm的饼型锻件，校准灵敏度的方法错误的是（）。A、 试块调整法B、 底波调整法C、 距离-波幅-当量曲线法D、 AVG曲线法
用直探头检测锻件时，引起底波明显降低或消失的因素是（）。A、 底面与检测面不平行B、 工件内部有倾斜的大缺陷C、 工件内部有材质率减大的部位D、 以上都对
轴类锻件最主要检测方向是（）。A、轴向直探头检测B、径向直探头检测C、斜探头外圆面轴向检测D、斜探头外圆面周向检测
用直探头检验钢锻件时，引起底波明显降低或消失的因素有（）A、底面与探伤面不平行B、工件内部有倾斜的大缺陷C、工件内部有材质衰减大的部位D、以上全部
锻件中的粗大晶粒可能引起：（）A、底波降低或消失B、噪声或杂波增大C、超声严重衰减D、以上都有
饼类锻件最主要探测方向是（）A、 直探头端面检测B、 直探头侧面检测C、 斜探头端面检测D、 斜探头侧面检测
在直探头探伤过程中，引起底波高度明显下降或消失的因素有（）。A、探头接触不良B、遇到材质衰减大的部位C、工件底面不平或工件内部有缺陷D、以上都对
用直探头检验钢锻件时，引起底波明显降低或消失的因素有（）A、底面与探伤面不平行B、工件内部有倾斜的大缺陷C、工件内部有材质衰减大的部位D、以上都有可能
锻件探伤中，引起底波降低或消失的原因有（）。A、 探头接触不良B、 遇到了材质衰减大的部位C、 工件底面不平整D、 以上都对
直探头垂直扫查“矩形锻件”时，工件底面回波迅速降低或消失的原因是（）。A、底波被较大的面积性缺陷反射B、底波被较小的单个球状缺陷反射C、底波的能量被转换为电能而吸收D、以上都可能
锻件探伤中，如缺陷引起底波明显（）时，说明锻件中存在较严重的缺陷。
锻件探伤时，如缺陷引起底波明显下降或消失，说明锻件中存在较严重的缺陷。
锻件探伤中，如果材料的晶粒粗大，通常会引起（）A、底波降低或消失B、有较高的“噪声”显示C、使声波穿透力降低D、以上全部
使用0°探头穿透式探伤时判伤的依据是（）。A、底波消失B、底波减弱C、反射回波D、底波减弱或消失
单选题锻件探伤中，如果材料的晶粒粗大，通常会引起（）A底波降低或消失B有较高的“噪声”显示C使声波穿透力降低D以上全部
单选题长方体锻件最主要检测方向是（）。A 直探头端面检测B 直探头侧面检测C 斜探头端面检测D 直探头垂直的两端面检测
单选题用2.5P20Z的直探头检测厚度90 mm的饼型锻件，校准灵敏度的方法错误的是（）。A 试块调整法B 底波调整法C 距离-波幅-当量曲线法D AVG曲线法
单选题锻件探伤中，如果材料的晶粒粗大，通常会引起（）A底波降低或消失B有较高的噪声显示C使声波穿透力降低D以上全部
单选题饼类锻件最主要探测方向是（）A 直探头端面检测B 直探头侧面检测C 斜探头端面检测D 斜探头侧面检测
单选题锻件探伤中，引起底波降低或消失的原因有（）。A探头接触不良B遇到了材质衰减大的部位C工件底面不平整D以上都对
单选题锻件中的粗大晶粒可能引起（）A 底波降低或消失B 噪声或杂波增大C 超声严重衰减D 以上都有
判断题锻件探伤时，如缺陷引起底波明显下降或消失，说明锻件中存在较严重的缺陷。A对B错
单选题用直探头检验钢锻件时，引起底波明显降低或消失的因素有（）A底面与探伤面不平行B工件内部有倾斜的大缺陷C工件内部有材质衰减大的部位D以上都有可能
判断题锻件探伤中，如缺陷引起底波明显下降或消失时，说明锻件中存在较严重的缺陷。A对B错
单选题在直探头探伤过程中，引起底波高度明显下降或消失的因素有（）。A探头接触不良B遇到材质衰减大的部位C工件底面不平或工件内部有缺陷D以上都对