一般情况下，介损tgδ试验主要反映设备的整体缺陷，而对局部缺陷反映不灵敏。

一般情况下，介损tgδ试验主要反映设备的整体缺陷，而对局部缺陷反映不灵敏。

相关考题：

J80、介质损失角试验能够反映出变压器绝缘所处的状态，但是（ ）。（A）对局部缺陷反映灵敏，对整体缺陷反映不灵敏（B）对整体缺陷反映灵敏，对局部缺陷反映不灵敏（C）对整体缺陷和局部缺陷反映都灵敏（D）可能灵敏，可能不灵敏
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tanδ能反映绝缘的整体性缺陷和小电容试品中的严重局部性缺陷。A对B错
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测量变压器的介损，可以反映出变压器绕组是否有断股，接头接触不良等缺陷。（）
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为什么测量大电容量、多元件组合的电力设备绝缘的tgδ，对反映局部缺陷并不灵敏？
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检测电力设备局部放电的目的在于反映其（）。A、高温缺陷；B、机械损伤缺陷；C、伴随局部放电现象的绝缘缺陷；D、变压器油整体受潮缺陷。
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tanδ能反映绝缘的整体性缺陷和小电容试品中的严重局部性缺陷。
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在一般情况下，介质损耗tg∮试验主要反映设备绝缘的整体缺陷，而对局部缺陷反映不灵敏。
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介质损耗因数tg∮试验，可以发现设备绝缘整体受潮、劣化变质、以及小体积设备绝缘的某些局部缺陷。
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绝缘体有缺陷时，其介损tgδ将随试验（）升高而变（）。
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测量介质损耗因数，通常能发现的设备绝缘缺陷是（）。A、整体受潮B、整体劣化C、小体积试品的局部缺陷D、大体积试品的局部缺陷
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介质损失角试验能够反映出绝缘所处的状态，正确的是（）。A、对局部缺陷反应灵敏，对整体缺陷反应不灵敏；B、对整体缺陷反应灵敏，对局部缺陷反应不灵敏；C、对整体缺陷和局部缺陷反应都不灵敏；D、对局部缺陷和整体缺反应都灵敏。
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变压器套管整体绝缘显著降低，能够有效发现缺陷的可能试验项目是（）。A、直流电阻B、阻抗测量C、套管绝缘电阻D、套管介损
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在运行中的变压器发生异常时，通过进行（）可以发现变压器铁心磁路中的局部和整体缺陷。A、绕组介损试验B、空载试验C、套管电容量测试D、绕组绝缘电阻
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介质损失角试验能够反映出绝缘所处的状态，但（）A、对局部缺陷反应灵敏，对整体缺陷反应不灵敏B、对整体缺陷反应灵敏，对局部缺陷反应不灵敏C、对整体缺陷和局部缺陷反应都不灵敏
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介损tgδ不能发现的缺陷有（）。A、整体受潮B、劣化C、大体积绝缘的集中性缺陷D、小体积绝缘的集中性缺陷
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在一般情况下，介质损耗试验主要反映设备的整体缺陷，而对局部缺陷反映不灵敏
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测量变压器整体对地介损tgδ，可采用介损仪正接线及反接线。
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在一般情况下，介损tgδ试验主要反映设备绝缘的整体缺陷，而对局部缺陷反映不灵敏。
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电压致热型引起的发热可以反映设备的内部缺陷和外部缺陷，但是不包括以下哪一种缺陷（）A、接触电阻增大B、泄漏电流增大C、介损增大D、表面有裂纹
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通常把绝缘电阻、泄漏电流、介损tgδ、油的化学性能等的试验叫作绝缘的予防性试验，试说明这些试验项目可以发现的绝缘缺陷的类型。
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在现场采用介损仪测量设备的介损tgδ时，若存在电场干扰，则在任意测试电源极性的情况下，所测得tgδ值一定比真实的tgδ增大。
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变电所高压电气设备试验项目包括（）A、绝缘电阻的测量B、直流高压试验C、介损tgδ的测定D、交流耐压试验
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判断题介质损耗因数tg∮试验，可以发现设备绝缘整体受潮、劣化变质、以及小体积设备绝缘的某些局部缺陷。A对B错
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单选题测量介质损耗 数，通常不能发现的设备绝缘缺陷是（）A整体受潮B整体劣化C小体积试品的局部缺陷D大体积试品的局部缺陷
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判断题在一般情况下，介损tgδ试验主要反映设备绝缘整体缺陷，而对局部缺陷反映不灵敏。A对B错
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单选题介质损失角试验能够反映出绝缘所处的状态，正确的是（）。A对局部缺陷反应灵敏，对整体缺陷反应不灵敏；B对整体缺陷反应灵敏，对局部缺陷反应不灵敏；C对整体缺陷和局部缺陷反应都不灵敏；D对局部缺陷和整体缺反应都灵敏。
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判断题在一般情况下，介质损耗tg∮试验主要反映设备绝缘的整体缺陷，而对局部缺陷反映不灵敏。A对B错
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