一般来说，被试设备的体积电容愈大，或局部集中缺陷的范围愈小，总体tanδ的数值增加也就愈小，对缺陷的反映愈不灵敏。A对B错
当被试品具有较大电容时，tanδ测试只能反映整体的绝缘状况。A对B错
当被试品具有较大电容时，tanδ测试不能有效反映试品中可能存在的局部缺陷。A对B错
在现场测量小电容量试品的介质tanδ值时，受外界影响的因素很多，往往引入很多误差，这类试品主要是指（）。A、变压器B、耦合电容器C、电流互感器D、变压器套管
变压器绕组连同套管的tanδ能发现变压器（）、严重的局部缺陷等。A、局部受潮B、整体赃污C、整体受潮D、局部受潮绝缘油劣化
测量介质损耗因数，通常不易发现（）。A、整体受潮B、绝缘油劣化C、小体积试品的局部缺陷D、大体积试品的局部缺陷
当被试品具有较大电容时，tanδ测试只能反映整体的绝缘状况。
一般来说，被试设备的体积电容愈大，或局部集中缺陷的范围愈小，总体tanδ的数值增加也就愈小，对缺陷的反映愈不灵敏。
当试品绝缘中存在气隙时，随着试验电压U的变化，tanδ值呈闭合的环状曲线。
当被试品具有较大电容时，tanδ测试不能有效反映试品中可能存在的局部缺陷。
tanδ能反映绝缘的整体性缺陷和小电容试品中的严重局部性缺陷。
tanδ测试时，随着试验电压U的变化，tanδ值呈开口环曲线，则试品属于（）。A、良好绝缘B、绝缘中存在气隙C、绝缘受潮
测量介质损耗因数，通常不能发现的设备绝缘缺陷是（）A、整体受潮B、整体劣化C、小体积试品的局部缺陷D、大体积试品的局部缺陷
测量介质损耗因数，通常能发现的设备绝缘缺陷是（）。A、整体受潮B、整体劣化C、小体积试品的局部缺陷D、大体积试品的局部缺陷
测量绝缘电阻及直流泄漏电流通常能发现的设备绝缘缺陷是（）。A、贯穿性缺陷B、整体受潮C、小体积试品的局部缺陷D、大体积试品的局部缺陷
通过测量（）可以检查被试品是否存在绝缘受潮和劣化等缺陷。A、电感B、电容C、介质损耗角正切值
测量变压器绕组的介损tanδ，可以检查油质是否劣化，绝缘表面是否附着油泥或污秽，以及严重局部缺陷等。
测量介质损耗因数，对发现以下哪些缺陷较为有效？（）A、整体受潮B、绝缘油劣化C、小体积试品的局部缺陷D、大体积试品的局部缺陷
判断题一般来说，被试设备的体积电容愈大，或局部集中缺陷的范围愈小，总体tanδ的数值增加也就愈小，对缺陷的反映愈不灵敏。A对B错
单选题tanδ测试时，随着试验电压U的变化，tanδ值呈开口环曲线，则试品属于（）A良好绝缘B绝缘中存在气隙C绝缘受潮
判断题tanδ能反映绝缘的整体性缺陷和小电容试品中的严重局部性缺陷。A对B错
单选题测量介质损耗 数，通常不能发现的设备绝缘缺陷是（）A整体受潮B整体劣化C小体积试品的局部缺陷D大体积试品的局部缺陷
判断题当被试品具有较大电容时，tanδ测试不能有效反映试品中可能存在的局部缺陷。A对B错
判断题当被试品具有较大电容时，tanδ测试只能反映整体的绝缘状况。A对B错
填空题tanδ能反映绝缘的（）和小电容试品中的严重（）。由随（）的变化曲线，可判断绝缘是否受潮、含有气泡及老化的程度。