下列关于系统误差产生原因说法不正确的是()。A、系统误差按其产生的原因可分为仪器误差、方法误差和操作误差等B、系统误差可以用对照试验、空白试验、校正仪器等方法加以校正C、系统误差可以由仪器本身不够精密或未经校正等原因而引起D、在滴定分析中,滴定终点和理论终点不符合不会产生系统误差

下列关于系统误差产生原因说法不正确的是()。

  • A、系统误差按其产生的原因可分为仪器误差、方法误差和操作误差等
  • B、系统误差可以用对照试验、空白试验、校正仪器等方法加以校正
  • C、系统误差可以由仪器本身不够精密或未经校正等原因而引起
  • D、在滴定分析中,滴定终点和理论终点不符合不会产生系统误差

相关考题:

可以减免分析测试中系统误差的方法是() A、进行仪器校正B、认真细心操作C、作空白试验D、增加平行测定次数

消除系统误差的方法有哪些()。 A、增加平行测定的次数B、做空白试验C、校正仪器D、做对照试验。

系统误差可以用对照试验、空白试验、()等方法加以校正。A.多次平行测定B.二次平行试验C.校正仪器D.滴定试验

下列有关于系统误差产生原因说法不正确的是( )A.系统误差按其产生的原因可分为仪器误差、方法误差和操作误差等B.系统误差可以用对照试验、空白试验、校正仪器等方法加以校正C.仪器本身精密不够或未经校正不会引起系统误差D.重量分析中,由于沉淀的溶解或因吸附某些杂质亦可产生系统误差

系统误差可以用( )、空白试验、校正仪器等方法加以校正。A.对照试验B.滴定试验C.多次平行测定D.二次平行测定

由于试剂中含有干扰杂质所产生的系统误差,应通过()来消除。A.对照分析B.空白试验C.增加平行试验D.校正仪器

下列说法不属于系统误差产生的原因的是A.仪器未经校正B.试剂浓度不准确C.个人操作方法不规范D.观察值本身的变异E.诊断标准不统一

下列有关于系统误差产生原因说法不正确的是()A、系统误差按其产生的原因可分为仪器误差、方法误差和操作误差等B、系统误差可以用对照试验、空白试验、校正仪器等方法加以校正C、仪器本身精密不够或未经校正不会引起系统误差D、重量分析中,由于沉淀的溶解或因吸附某些杂质亦可产生系统误差

若对照实验说明有系统误差存在,则应设法找出产生系统误差的原因,并加以消除。通常消除化学分析过程中系统误差的方法有()A、做空白实验消除试剂、蒸馏水及器皿引入的杂质所造成的系统误差B、校准仪器以消除仪器不准所引起的系统误差C、引用其它分析方法作校正D、做加标回收试验

在滴定分析中,因为反应进行不完全或干扰离子的影响,以及滴定终点和理论终点不符合等,都会系统地影响测定结果,从而产生的系统误差属于操作误差。

系统误差可以用()、空白试验、校正仪器等方法加以校正。A、对照试验B、滴定试验C、多次平行测定D、二次平行测定

系统误差可以用对照试验、空白试验、()等方法加以校正。A、多次平行测定B、二次平行试验C、校正仪器D、滴定试验

消除系统误差的方法有()。A、增加平行测定的次数B、做空白试验C、校正仪器D、做对照试验

滴定管未经校正,属于()。A、操作误差B、偶然误差C、系统误差D、方法误差

在分析测定中,具有()和()的仪器都应进行校正,以消除仪器不准引起的系统误差。

由于分析仪器未经校正而引起的误差属于系统误差。

检验分析方法是否存在系统误差的方法是()。A、空白试验B、回收试验C、增加测定次数D、对各种仪器进行校正

消除测定中系统误差可以采取()措施A、选择合适的分析方法B、做空白试验C、增加平行测定次数D、校正仪器E、做对照试验

在下列方法中可以减少分析中系统误差的是()A、增加平行试验的次数B、进行对照实验C、进行空白试验D、进行仪器校正

内标法是仪器分析校正方法之一,该方法可以克服或减少仪器或方法的不足等引起的随机误差或系统误差。

由于试剂中含有干扰杂质所产生的系统误差,应通过()来消除。A、对照分析B、空白试验C、增加平行试验D、校正仪器

下列哪项方法对减少系统误差帮助不大()。A、对照试验B、空白试验C、重复试验D、仪器校正E、干扰试验

根据系统误差产生的原因可采取相应的校正方法。进行空白试验是为了校正()A、方法误差B、仪器误差C、试剂误差D、操作误差

单选题由于试剂中含有干扰杂质所产生的系统误差,应通过()来消除。A对照分析B空白试验C增加平行试验D校正仪器

单选题根据系统误差产生的原因可采取相应的校正方法。进行空白试验是为了校正()A方法误差B仪器误差C试剂误差D操作误差

单选题下列哪项方法对减少系统误差帮助不大()。A对照试验B空白试验C重复试验D仪器校正E干扰试验

多选题在下列方法中可以减少分析中系统误差的是()A增加平行试验的次数B进行对照实验C进行空白试验D进行仪器校正