根据系统误差产生的原因可采取相应的校正方法。进行空白试验是为了校正()A、方法误差B、仪器误差C、试剂误差D、操作误差

根据系统误差产生的原因可采取相应的校正方法。进行空白试验是为了校正()

  • A、方法误差
  • B、仪器误差
  • C、试剂误差
  • D、操作误差

相关考题:

可以减免分析测试中系统误差的方法是() A、进行仪器校正B、认真细心操作C、作空白试验D、增加平行测定次数

用碘量法测定头孢菌素含量时,应以A.经过水解的样品溶液作空白试验进行校正B.经过水解的标准品溶液作空白试验进行校正C.未经水解的样品溶液作空白试验进行校正D.未经水解的标准品溶液作空白试验进行校正E.标准品溶液作空白试验进行校正

消除系统误差的方法有哪些()。 A、增加平行测定的次数B、做空白试验C、校正仪器D、做对照试验。

系统误差可以用对照试验、空白试验、()等方法加以校正。A.多次平行测定B.二次平行试验C.校正仪器D.滴定试验

下列有关于系统误差产生原因说法不正确的是( )A.系统误差按其产生的原因可分为仪器误差、方法误差和操作误差等B.系统误差可以用对照试验、空白试验、校正仪器等方法加以校正C.仪器本身精密不够或未经校正不会引起系统误差D.重量分析中,由于沉淀的溶解或因吸附某些杂质亦可产生系统误差

系统误差可以用( )、空白试验、校正仪器等方法加以校正。A.对照试验B.滴定试验C.多次平行测定D.二次平行测定

由于试剂中含有干扰杂质所产生的系统误差,应通过()来消除。A.对照分析B.空白试验C.增加平行试验D.校正仪器

空白试验是为了检查消除因试剂和器皿所引入的系统误差

下列有关于系统误差产生原因说法不正确的是()A、系统误差按其产生的原因可分为仪器误差、方法误差和操作误差等B、系统误差可以用对照试验、空白试验、校正仪器等方法加以校正C、仪器本身精密不够或未经校正不会引起系统误差D、重量分析中,由于沉淀的溶解或因吸附某些杂质亦可产生系统误差

下列关于系统误差产生原因说法不正确的是()。A、系统误差按其产生的原因可分为仪器误差、方法误差和操作误差等B、系统误差可以用对照试验、空白试验、校正仪器等方法加以校正C、系统误差可以由仪器本身不够精密或未经校正等原因而引起D、在滴定分析中,滴定终点和理论终点不符合不会产生系统误差

系统误差可以用()、空白试验、校正仪器等方法加以校正。A、对照试验B、滴定试验C、多次平行测定D、二次平行测定

系统误差可以用对照试验、空白试验、()等方法加以校正。A、多次平行测定B、二次平行试验C、校正仪器D、滴定试验

消除系统误差的方法有()。A、增加平行测定的次数B、做空白试验C、校正仪器D、做对照试验

下列哪些方法可以降低系统误差()A、实验前对各种仪器及器皿进行检定或校正B、增加测定次数,取其平均值C、做空白试验,扣除空白值D、选用公认的标准方法与所用方法比较,找出校正数据

检验分析方法是否存在系统误差的方法是()。A、空白试验B、回收试验C、增加测定次数D、对各种仪器进行校正

消除测定中系统误差可以采取()措施A、选择合适的分析方法B、做空白试验C、增加平行测定次数D、校正仪器E、做对照试验

由试剂引起的系统误差的减免方法是()。A、校止仪器B、空白试验C、改用标准分析方法D、由多人平行进行实验后取平均值

在下列方法中可以减少分析中系统误差的是()A、增加平行试验的次数B、进行对照实验C、进行空白试验D、进行仪器校正

由于试剂中含有干扰杂质所产生的系统误差,应通过()来消除。A、对照分析B、空白试验C、增加平行试验D、校正仪器

下列哪项方法对减少系统误差帮助不大()。A、对照试验B、空白试验C、重复试验D、仪器校正E、干扰试验

可减小随机误差的方法是()A、进行仪器校正B、作对照试验C、作空白试验D、增加平行测定次数

多选题消除测定中系统误差可以采取()措施。A选择合适的分析方法B做空白试验C增加平行测定次数D校正仪器E做对照试验

单选题由于试剂中含有干扰杂质所产生的系统误差,应通过()来消除。A对照分析B空白试验C增加平行试验D校正仪器

单选题用碘量法测定头孢菌素含量时,应以(  )。A未经水解的标准品溶液作空白试验进行校正B经过水解的样品溶液作空白试验进行校正C未经水解的样品溶液作空白试验进行校正D经过水解的标准品溶液作空白试验进行校正E标准品溶液作空白试验进行校正

单选题根据系统误差产生的原因可采取相应的校正方法。进行空白试验是为了校正()A方法误差B仪器误差C试剂误差D操作误差

单选题下列哪项方法对减少系统误差帮助不大()。A对照试验B空白试验C重复试验D仪器校正E干扰试验

多选题在下列方法中可以减少分析中系统误差的是()A增加平行试验的次数B进行对照实验C进行空白试验D进行仪器校正