能量色散X射线荧光分析仪从多道分析器得到的谱带必须经过谱处理,其中包括()等,才能得到准确的谱峰和强度。A、谱平滑B、背景拟合扣除C、重叠峰的拟合D、分离

能量色散X射线荧光分析仪从多道分析器得到的谱带必须经过谱处理,其中包括()等,才能得到准确的谱峰和强度。

  • A、谱平滑
  • B、背景拟合扣除
  • C、重叠峰的拟合
  • D、分离

相关考题:

X射线透过滤线板后()A、强度增加,谱线范围变窄;B、能量增加,谱线范围变宽;C、射线变硬,谱线范围变宽;D、射线变硬,谱线范围变窄;E、射线变软,谱线范围变窄;

电网设备的光谱分析检验常用哪种设备()A、看谱镜B、光电光谱分析仪C、手持式X射线光谱仪D、荧光光谱仪

X射线荧光分析法所应用的元素固有的荧光X射线波长为()A、全谱段波长B、0.001~10nmC、0.01~120nmD、0.1~800nm

在能量色散X射线荧光光谱仪中滤光片其作用是改善激发源的谱线能谱成分,同时在进行多元素分析时,滤光片可用来抑制这些高含量组分的强X射线荧光。

X射线荧光光谱仪由光源、()、()和谱仪控制与数据处理系统组成。

波长色散X射线荧光谱线相对强度是指在一特定谱线系中各谱线间的强度比。

连续谱X射线产生于()过程A、轫致辐射B、跃迁辐射C、荧光辐射D、以上都是

在工业射线探伤中,使胶片感光的主要是连续谱X射线,标识谱X射线不起什么作用。

在X射线荧光光谱分析法中,除存在谱线重迭干扰外还存在()干扰。

X射线管产生的一次X射线束是(),二次X射线束是()。A、连续谱+特征谱B、纯特征谱C、连续谱D、散射线

用于能量色散X射线荧光分析仪的探测器主要有:()A、Si-PIN探测器B、Si(Li)探测器C、硅漂移探测器(SDD)D、正比计数器

能量色散X射线荧光光谱仪是利用X射线荧光具有不同()的特点,将其分开,依靠()探测器来检测。A、能量B、波长C、半导体D、计数

X射线荧光分析可分为能量色散和波长色散两类。

能量色散型X射线荧光光谱仪利用()进行定性分析。A、脉冲数/秒B、能谱图峰位(脉冲高度)C、能谱图的峰高D、透光度

X射线荧光分析连续X射线中短波限与()有关。A、X光管电流B、X光管电压C、X光管靶材D、连续谱

X射线荧光的()与元素的种类有关,据此可以进行定性分析,X射线荧光的()与元素的含量有关,据此可以进行定量分析。A、谱线B、波长C、特征线D、强度

能量色散X射线荧光光谱仪的脉冲高度分析器由一个或多个脉冲高度选择器组成,用来提供波谱图。

波长色散X射线荧光光谱仪的原级谱线滤光片位于X射线管与()之间,是一种能()吸收某波长或波带的金属薄膜。A、样品B、晶体C、选择性地D、反射

试比较ESCA光电子能谱,俄歇电子能谱和X-射线荧光光谱原理及特点。

简述能量色散X射线荧光分析中的干扰因素?

简述能量色散X射线荧光分析中X射线探测器应满足哪些要求?

X射线通过滤线板后:()  A、强度增加,谱线范围变窄;B、能量增加,谱线范围变宽;C、射线变硬,谱线范围变宽;D、射线变硬,谱线范围变窄。

能量色散X射线荧光法元素激发条件可用()控制。A、调节X射线管电压B、调节X射线管电流强度C、增加测定时间D、增加X射线强度

单选题X射线荧光分析法所应用的元素固有的荧光X射线波长为()A全谱段波长B0.001~10nmC0.01~120nmD0.1~800nm

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